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摘要 GM8Q#vc vV xw*\`<6 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 EDz;6Z*4N sv!zY= 6 z4 <_>)p K&n-(m% 建模任务 9%Tqk"x? 2i0;b|-= n"`V|
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%.hJDX\j n807?FORB 系统光线追迹结果 f=k#o2 ZG0^O"B0 !qp$Xtf+ AmHj\NX$ 完美的减反射(AR)涂层 h]h"-3 nShXY6bA mZ2CGOR l;KrFJ6 有内部反射 f]#\&" S't9F
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