切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 504阅读
    • 0回复

    [技术]准直系统中鬼像效应的研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    在线infotek
     
    发帖
    7093
    光币
    29606
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2025-05-15
    摘要 GM8Q#vc  
    vV xw*\`<6  
    仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。
    EDz;6Z*4N  
    sv!zY= 6  
    z4 <_>)p  
    K&n-(m%  
    建模任务 9%Tqk"x?  
    2i0;b|-=  
    n"`V| UTHP  
    gV-*z}`U  
    \vJ0Mhk1  
    准直系统 #IZ.px  
    'pT13RFD  
    {?Nm"#  
    2WDe 34   
    序列追迹 [-VK! 9pQ  
    ">G*hS  
    =tbfBK+  
    @dk-+YxG  
    总结—元件 Vz$xV!  
    M(nzJ  
    4#}aLP  
    Gh/nNwyu<  
    %.hJDX\j  
    n807?FORB  
    系统光线追迹结果 f=k#o2  
    ZG 0^O"B0  
    !qp$Xtf+  
    AmHj\NX$  
    完美的减反射(AR)涂层 h]h"-3  
    nShXY6bA  
    mZ2CG O R  
    l;KrFJ6  
    有内部反射 f] #\&"  
    S't9F  
    YnuY/zDF  
     
    分享到