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摘要
}aNiO85 GYO\l.%V5y 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 -;P<Q`{I E;4Ns @IiT8B U*&ZQw 建模任务 50DPzn X^|oY]D o@>c[knJ
($S{td; : l>Ue& 准直系统 [V)sCAW )E7A,ZW, ~M'\9 P/I{q s 非序列追迹 %o"Rcw| 7t04!dD}
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+1)C&: f0D Ch] 系统光线追迹结果 bf74 " <Y#R]gf1 z'qVEHc) kQ#eWk J, 完美的减反射(AR)涂层 :>X7(&j8 k(
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