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摘要 >$}Mr%49 a\-5tYo`u 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 Wr Wz+5M8 V,ZRX}O :TrP3wV_ 4-O.i\1q 建模任务 (QFZM"G ^p4`o> 1
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"=?JIQ rDaiAx& 准直系统 F\+9u$= (Vey]J GLY,<O>D5 #~*v*F~3 非序列追迹 $LR~c)}1I :^7_E&
]$K5 8C 5'Mw{` 总结—元件… F[ ^ p~u{ #;2mP6a[ )$Fw<;4 Z1H
1%.CtTi #!z'R20PH 系统光线追迹结果 wj$3L3 IxG0TJ_
Ejf>QIB ohXbA9&(x 完美的减反射(AR)涂层 MoC/xF& 0} \;R5a< VjSbx'i : B/u> 有内部反射 uN9.U _ az:lG(ZGw
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