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摘要 Xp_m=QQsm )l$}plT4 仿真技术的主要作用之一是提供一个平台,以便在系统制造之前研究系统的性能,以便尽可能多地预防潜在的缺陷。杂散光是影响系统性能的最常见现象之一,杂散光可能有多个来源,其中包括系统中的内部伪反射。在这个用例中,我们分析了高Na激光二极管准直透镜系统中这种反射的存在,我们模拟了产生的鬼像对探测场的影响(由主准直光束的干涉引起的同心环图案和由杂散光产生的二次发散),并确定需要在透镜系统的关键表面上涂上抗反射涂层。 x&*f5Y9hCi /2zan} I ^m r8@]|`j 建模任务 yhYF "~CM a/\{NHs6"5 P
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!b7"K| }04mJY[ 准直系统 BO#tn{(# y/y~<-|<@ :^WF%X /ZD 6pF 非序列追迹 H)i|?3Ip Hc=QSP
('SId@ @`dg:P*[ 总结—元件… G/N c@XG\ uZtN,Un 7jIBE ^L5-2;s<U'
n'v\2(&uYN z,4mg6gt 系统光线追迹结果 gT_KOO0n dgF%&*Il]O Cp(2]Eb u30D`sky 完美的减反射(AR)涂层 g/JF(nkP i-Rn,}v ey=KA t J _;H 有内部反射 29,ET}~ z'"7zLQ
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