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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 03-24
    摘要 |y:DLsom?i  
     -dvDAs{X  
    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 9lD,aOb  
    G8;S`-D1a,  
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     %*19S.=l  
    1. 案例 ASYUKh,h  
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      .y\HQ^j  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 y2qESAZ%k}  
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    1. 系统构建模块 @Op8^8$`  
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    2. 组件连接器 iZSSd{jO  
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          "w'YZO]>  
    几何光学仿真 %&] }P;&  
     W8P**ze4)  
    以光线追迹 4vX]c  
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    1. 结果：光线追迹  R_N<j  
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    快速物理光学仿真 M|v.5l#   
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    以场追迹 jo|q,t  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 6m.Ku13;  
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     RYV6hp)|  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 L|2COX  
       5"gRz9Ta`  
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    3'"M31iA  
    3. NA=0.5时的光栅成像 -+9x 0-P  
       uv-W/p  
    <{U{pCT%  
     
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