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    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 03-24
    摘要 %s@S|< W  
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    显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 &:CjUaP@  
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    1. 案例 7 Y>`-\  
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    在VirtualLab Fusion中构建系统 W _,;eyo  
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    1. 系统构建模块 0 {JK4]C  
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    2. 组件连接器 loUl$X.u  
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    几何光学仿真 fQ36Hd?(5  
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    以光线追迹 p=~h|(M|  
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    1. 结果：光线追迹 >GznG[Ku  
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          J,1osG<6x  
    快速物理光学仿真 1n`1o-&l-  
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    以场追迹 uPFHlT  
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    1. NA=1.4时的光栅成像 PNJe&q0*  
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    2.  NA=0.75时的光栅成像 Aa`MK$29F  
       TsX+. i'  
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    Vj=Xcn#*8  
    3. NA=0.5时的光栅成像 -jVaS w t  
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