切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 84阅读
    • 0回复

    [技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5734
    光币
    22822
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 03-24
    摘要 Bd~cY/M  
    /uXRZ  
    显微系统分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后,像面不会发生干涉,因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 @))}\:  
    mQ60@_"Y=,  
    oT (:33$  
    6 #x)W  
    1. 案例 jvc?hUcLKT  
    C6V&R1"s  
    }A)36  
    ^HlLj#  
    在VirtualLab Fusion中构建系统 OV("mNh  
    [q+e]kD  
    1. 系统构建模块 y(3c{y@~X  
    Xtu`5p_Qv  
    PUjoi@]  
    ~d7Wjn$@  
    2. 组件连接器 }#W`<,*rL.  
    'W?v.W &  
    VXc+Wm*W  
    P-OPv%jyi  
    几何光学仿真 ]%<Q:+38  
    1u"*09yZd  
    光线追迹 XL7;^AE^Wl  
    Ns!3- Y  
    1. 结果:光线追迹 L740s[,`o#  
    :ONuWNY N  
    NB W%.z  
    =yTa,PY  
    快速物理光学仿真 Y!= k  
    XHZ: mLf  
    以场追迹 a?,[w'7FU  
    $D/bU lFx  
    1. NA=1.4时的光栅成像 S\3AW,c]w  
    4Ay`rG  
    WE.$at{*h  
    m/<F 5R  
    2.  NA=0.75时的光栅成像 u JQaHL!  
       iJZ|[jEDV  
    5rfH;`  
    ne"?90~  
    3. NA=0.5时的光栅成像 Wm$`ae   
       *TM;trfz  
    ]~prR?  
     
    分享到