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摘要 >yVp1Se
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 TP~1-(M)} DrbjklcUU 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ,yvS c
ReL +V 建模任务 ~B? Wg!
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 qJ<l$Ig %<'.c9u5 由于组件倾斜引起的干涉条纹 P2| +7D:
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