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摘要 AuIb>@a [iVCorU ~ED8]*H|` ArWMbT>Zqw 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 Y"~Tf{8 _h|rH 建模任务 l_tr,3_w Sq^f}q A;~lG3j4 y)iT-$bQ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 wG;#L7% 9qc<m'MZ a+A^njk YjaEKM8* 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 [>+R|;ln VN!`@Ci/ Hl`S\
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