摘要 ;bzX%f?|G
mEG6 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此,有必要将测量到的高度剖面(例如微
结构的高度剖面)导入建模
软件,以评估真实元件的性能。因此,在本文档中,我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
/6uT6G+(z} gmKGy@] 简介 =ac_,]z 2&mGT&HAVA /1=4"|q>h' 步骤 1
MM_k
]-7 - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
?t&kb7 步骤 2
Qd _6)M- - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
`:8J46or 步骤 3
{PP9$>4`l - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米,因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
C@ZK~Y_g 步骤 4
7"F*u : - 检查导入数据阵列的高度值,并通过Manipulation菜单进行调整(例如,应用常数乘法)。
SvM6iZ] 步骤 5
(_kp{0r# - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
1J=.N|(@Q 步骤 6
aimarU - 将导入的数据阵列加载到采样界面
LsEXM- }0#U;_;D 步骤 7 .
N[]Hc - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
f),TO C
(n+SY^ 步骤 8
: JzI>/ - 如果需要,增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
GcIDG`RX {^mNJ 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 {e[%;W%c& y.5/?{GL ?_x
q- 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中,我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
yzw mT lt^\ 文件信息 WG*t::NN `g8E1-]l