摘要 t.v@\[{ - = iB0ak 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此，有必要将测量到的高度剖面（例如微
结构的高度剖面）导入建模
软件，以评估真实元件的性能。因此，在本文档中，我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
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2x.?d L!| c: 8 简介 k$9oUE, 
KcF2}+iM 步骤 1
_Y40a+hk] - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
=m xmJFA 步骤 2
C%85Aq* 4 - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
~ T|?!zML 步骤 3
nsqc^
K^ - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米，因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
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^^]Or 步骤 4
7[[ XNJP - 检查导入数据阵列的高度值，并通过Manipulation菜单进行调整（例如，应用常数乘法）。
B<T wTv 步骤 5
fT!n* ;h - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
v<,? %(g)7 步骤 6
w&8gA[y*u - 将导入的数据阵列加载到采样界面
M;ac U~J CTv-$7# 步骤 7 .
d}GO( - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
@@9#od O 2VyLt=mdh 步骤 8
s(q\!\FS - 如果需要，增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
]7}2"?J4v J GnL[9P_ 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 }Y~o =3- D:sQHJ. y q %i2' yE 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中，我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
&EYO[~D06 <\|f;7/ 文件信息 e*;-vS9H r4D*$H-rR 
