摘要 ;0`I Ftz F,V| In 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此，有必要将测量到的高度剖面（例如微
结构的高度剖面）导入建模
软件，以评估真实元件的性能。因此，在本文档中，我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
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J40&. .@ZrmO
o]] 简介 F3t IJz>3 
r7^v@ 步骤 1
zN=s]b=/ - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
fe8hgTP| 步骤 2
C;%dZ - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
a }iP +#; 步骤 3
X3~` ~J - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米，因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
y;(G%s1 步骤 4
#. 71O#! - 检查导入数据阵列的高度值，并通过Manipulation菜单进行调整（例如，应用常数乘法）。
[Zzztn+ 步骤 5
5tk7H2K^< - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
]]e>Jym 步骤 6
}
7ND] y48 - 将导入的数据阵列加载到采样界面
F%.UpV, # hk5z;J5 步骤 7 .
-<sW`HpD' - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
VGc.yM)&
j \#IKirf? 步骤 8
K=r~+4F - 如果需要，增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
GB;_!69I x&"P^gh) 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 Q- w_ @~ bR;.KC3C 6G }4KGQc 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中，我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
3sW!ya-VZ $sUn'62JlU 文件信息 1f'msy/ Wc,`L$Jx 
