摘要 J1u&Ga ,$+ P
建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此,有必要将测量到的高度剖面(例如微
结构的高度剖面)导入建模
软件,以评估真实元件的性能。因此,在本文档中,我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
J$^"cCMr ]<BT+6L 简介 cK1 Fv6V#
[9C{\t -NPX;e$< 步骤 1
h]vuBHJ} - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
ROr|n]aJj 步骤 2
Kgw,]E&7 - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
mhgvN-? "h 步骤 3
AsfmH-4) - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米,因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
r>lo@e0G 步骤 4
TtWWq5X| - 检查导入数据阵列的高度值,并通过Manipulation菜单进行调整(例如,应用常数乘法)。
GUps\:ss 步骤 5
'j9x(T1M1 - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
!!<H*9]+W; 步骤 6
Ly-}HW ( - 将导入的数据阵列加载到采样界面
a|-ozBFR V4ybrUWK 步骤 7 .
&9ERlZ(A - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
2AXf'IOqE blKF78 步骤 8
] 1s6= - 如果需要,增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
r]deVd G (&1565 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 J(5#fo{Q.g qK)T#sh f<;eNN 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中,我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
{#,?K Hyb_>n 文件信息 Y?V.O r-AD*h@QZ