摘要 YJo["Q 2"B _At 建模结果与测量数据的比较对于任何
光学元件的设计过程都非常重要。因此,有必要将测量到的高度剖面(例如微
结构的高度剖面)导入建模
软件,以评估真实元件的性能。因此,在本文档中,我们将展示如何使用位图文件导入高度数据。
0q'w8]m DS)RX.k_# 简介 &0`)
Q
[B|MlrZ
u&n'
ITH 步骤 1
cra+T+|>Kc - 使用Import功能将位图图像文件作为Data Array导入。
ma((2My'H 步骤 2
tuhA
9}E - 设置数据
阵列的坐标、插值和外推法。
[AW"
D3 步骤 3
FD8N"p - 设置数据阵列的物理属性。由于默认的长度单位是米,因此一定要指定一个合适的系数来表示微结构的高度。
/jRRf"B 步骤 4
*;Ed*ibf - 检查导入数据阵列的高度值,并通过Manipulation菜单进行调整(例如,应用常数乘法)。
B~_d^` 步骤 5
EcCFbqS4W - 使用Microstructure或DOE Component -> Channel Operator -> Stack
sx`O8t 步骤 6
QI3Nc8t_2 - 将导入的数据阵列加载到采样界面
pi
,eIm qk;{cfzHA 步骤 7 .
E8~}PQW:I - 将堆栈的扩展设置为 DOE 的大小
>mjNmh7 $]/Zxd 步骤 8
l'TWkQ- - 如果需要,增加 TEA 算法的采样系数
导入的 DOE 的 3D 视图
Iwc{R8BV mzf+Cu:`v 使用导入 DOE 创建的衍射光束分束器 Sx8OhUyux dtcIC0:[ >`%'4<I 我们使用导入的 DOE 构建衍射光束分束器。紧跟在 DOE 之后的相位轮廓反映了从 DOE 加载的高度轮廓。从远场图片中,我们可以观察到 DOE 起到了 5 × 5 光束分束器的作用。这可以通过调整
折射率等
参数进一步
优化。
U~ck!\0&T r9ww.PpNk# 文件信息 q2et|QCru th&[Nt7