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光学测量>显微 t[?a@S~6 *vRI)>wU 任务/系统视图 7V=MRf&xQ Xn/ n|[ \oB' X7H'Uk9: 亮点 |0L=8~M(j t$K@%yU2 AbF(MK=i ~ThVap[* 显微镜系统中光栅的全矢量分析 Ns2,hQFc 在几秒钟内对复杂系统进行快速高性能分析 CQSpPQA 光线追迹和物理光学建模之间的简单切换 oSn! "<x
ut$,?k!M 说明:光源 (LRM~5KVg Har~MO?A cq,v1Y< fVDDYo2\ (T|TEt ym|NT0_0 说明:透镜系统 FjZc#\^9 4mN].X[, h(@R]GUX 说明:样品结构 ?< cM^$lI> %kh#{*q$ ]cm6 |`pz V#0
dGP-Z 说明:探测器 jg
[H} `KpFH.k.K UvxSMD:A >ZT& `E uf)W-Er6~ wG1y,u' 结果:3D光线追迹 %MJL5 O' +"d%2' VL+N:wb> E6Q]A~ "z^(dF| KD% TxK 结果:光线追迹 i;o}o*= _eJXi, J
I<3\=:+ .,3Zj / 结果:光线追迹衍射级数 :qKF58W \q~w<%9Dq ]^=|Zd- i"vawxm 结果:场追迹采样平面 QsiJ%O Q ugYw< Ji;SY{~kv ,;_rIO" 结果:场追迹焦平面 4%
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