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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量 > 干涉测量 p^(&qk?ut  
    @ S<-d  
    任务/系统说明 iX'rU@C  
    #jAqra._b  
    pLMRwgzr  
    g8!wb{8?s  
    亮点 <Sz52Suh>  
    )}TLC 2%  
    h._nK\  
    \#68;)+=  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; R*|LI  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 /(O$(35  
    |uW:r17  
    具体要求:光源 Z%GTnG|rG  
    GDYFU* 0  
    "Jjs"7  
    sC[yI Up  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 y9#$O(G  
    & c Ny  
    {pb>$G:gfx  
    6#j$GH *  
    0&ByEN9 9  
    SI:U0gUc  
    9N%JP+<89  
    {JV@"t-X3"  
    具体要求:分束器 pZ#ap<|>I  
    j3q~E[Mz\  
    %4 \OPw&  
    [m+iQVk'  
    具体要求:参考光路反射镜 =)O,`.M.Y  
    1FtM>&%4  
    c9R 5w.t:  
    "P)*FT  
    TO2c"7td  
    ~2EHOO{  
    具体要求:测试光路反射镜 65ly2gl  
    %gnM( pxl  
    6h3HDFS7s  
    PA6=wfc  
    具体要求:探测器 , @m@S ^  
    Q-#$Aa  
    `.y}dh/+0W  
    PpLU  
    结果:3D光线追迹 LQnkcV  
    bqanFQj  
    yfU<UQ!1  
    '03->7V  
    结果:场追迹 v#=`%]mL  
    `Q+moX  
    >:=|L%]s;\  
    `:'w@(q  
    结果:移动样品的场追迹结果 LJX-AO.4  
    `si#aU  
    =66Nw(E.  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 "m{,~'x  
     
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