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光学测量 > 干涉测量 >fH0>W+! X
zJ#)}f 任务/系统说明 \c<
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eV[{c %wN: 亮点 b=,B Le\
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b/M/) o!C •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； 3~~X,ZL •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； S,c{LTL
E^1yU 具体要求：光源 Q$E.G63Wl !l (Vk  ,/\`Rc^n (S~kyU!)0 具体要求：用于准直的消色差透镜 ?zW'Hi Q@ VA@N=w jHFjd'  ~}.C*;J \ 'm7un x MJ -=  A{ +/$7vek I-]G{ 具体要求：分束器 hX.cdt_? uY]';Ot G  \ p4*Q}t
*k{Llq 具体要求：参考光路反射镜 OrkcY39"~a h4hAzFQ.s  SZWNN#w60?
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`% 9Y)a/e 具体要求：测试光路反射镜 '12m4quO q8{Bx03m6  xV >
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#{6VdWZ 具体要求：探测器 +^AdD8U K *@?BE  A;co1,]gR ]46h!@~aC 结果：3D光线追迹 n {?Du L4 po1  (JbRhcg ,RPb <3
B 结果：场追迹 v}DNeIh~ b `P6Ox3
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4@{;z4* ` 结果：移动样品的场追迹结果 MT{1/A;`) #un'?]tZF  $ . tT 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 zZ[kU1Fyv
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