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光学测量 > 干涉测量 y yqya[-11 k@=w? m 任务/系统说明 nN*:"F/^ RbN# dI'
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\ _@_w6Rh 亮点 Wu|ANc ,+U,(P5>s
.% {4B,d$ (d?sFwOt\ •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; Pu `;B •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; ;UPI%DnE] _I<LB0kgf. 具体要求:光源 ;+NU;f/WM cP,bob] --BS/L- ^E}};CsT 具体要求:用于准直的消色差透镜 2(s-8E:
RS9mAeX4h -d8U Hc rL3 f%L ]`H8r y2 7>$&CWI i286`SLU 89+Q^79m 具体要求:分束器 KOYcT'J@vR <x O"
E%t >[&Zs3> `44 }kkBT 具体要求:参考光路反射镜 $9Pscu bM4 J<27w3bs~p $`'Xb kr{eC/Q"
w^N3Ma *c{X\!YBh 具体要求:测试光路反射镜 %D
$+Z( ffgb3 /gUD!@ z]33_[G1U 具体要求:探测器 SO8b~N "4[8pZO/ bS"zp6Di PZE{-TM?W 结果:3D光线追迹 -JwwD6D p&Ev"xhs '~;vp A2{s?L, 结果:场追迹 n"dYN3dE SM1[)jZ-
+L>?kr[i[ p*OpO&oodu 结果:移动样品的场追迹结果 gkRbb
lq*{2M{[ MQ7Hn;`B 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 ]^c]* O[8
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