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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量 > 干涉测量 }$)&{d G  
    !UNNjBBP7  
    任务/系统说明 T^)plWw  
    =P_fv  
     nP_=GI  
    ep?:;98|t  
    亮点 1i,4".h?M  
    @\!!t{y  
    Y+|PY? ~  
    k:0P+d  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; ER<eX4oU  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 ,C!n}+27  
    'O "kt T  
    具体要求:光源 ec'tFL#u{  
    {})y^L  
    XtW_  
    _7 `E[&v  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 FE6C6dW{  
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    Y\8+}g;KR  
    /+P5)q TKL  
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    q%.bnF/Yd  
    8nu> gA  
    具体要求:分束器 |uQ[W17^N  
    RUc\u93n  
    TolrEcI  
    Ut;'Gk  
    具体要求:参考光路反射镜 w{P6i<J  
    Z!)f*  
    p,s&61]  
    IDmsz  
    k!c7a\">{  
    b6Xi  
    具体要求:测试光路反射镜 %#4 +!  
    P8]ORQ6 ZF  
    + o{*r#  
    - #Jj-t_Fe  
    具体要求:探测器 <|Iyt[s  
    UFk!dK+  
    s?+fPOF  
    Q %y,;N"ro  
    结果:3D光线追迹 p  .aE  
    Wa}"SqYr h  
    500> CBL0O  
    cS 4T\{B;  
    结果:场追迹 Nc"NObe  
    UC;=)  
    }(cY|  
    2moIgJ   
    结果:移动样品的场追迹结果 $ %;jk  
    mCG;[4gM  
    t}c v2S  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 #O><A&FrF`  
     
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