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光学测量 > 干涉测量 zR:L! S A}9`S6 @@ 任务/系统说明 ~q.F<6O
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1.GQau~ 亮点 )N w8O{\
B~ GbF*j
 M5X &}cN6
|0b`fOS •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； 013x8 !i •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； A?P_DA
cF}".4|kZ< 具体要求：光源 :g0zT[f ]w8(&,PP  V b ?oJhR wlqksG[B 具体要求：用于准直的消色差透镜
cdT7
@ |/{=ww8| oD .Cs'  :crW9+ 8cIK vHx 1>h]{%I  $%#!bV O_7| C\] 具体要求：分束器 aX'*pK/- p_%Rt"!  n Dxz~8
?CPahU 具体要求：参考光路反射镜 b q*eH (qx htF] W|z  '\iCP1>+S
?Z/V~,
 2^ nxoye
W^l-Y %a/o 具体要求：测试光路反射镜 1oGw4kD^x >|UOz&  S.NPZ39}ZE
}K|oicpUg 具体要求：探测器 3f{3NzN + cN8Y}V  64tvP^kp M .mfw#* 结果：3D光线追迹 s;Q!X ?Q Ad_h K O 
_w +Qy. (f "4,b^] 结果：场追迹 &Z%?!.4j@ U>N1Od4vTO
 MQ6KN(?\ZL
0 @oJFJrO 结果：移动样品的场追迹结果 y}|s&4Sq 0 kW,I  +CNv l 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 oCz/HQoBk
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