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光学测量 > 干涉测量 p^(&qk?ut @
S <-d 任务/系统说明 iX'rU@C #jAqra._b
pLMRwgzr g8!wb{8?s 亮点 <Sz52Suh> )}TLC 2%
h._nK\ \#68;)+= •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; R*|LI •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; /(O$(35 |uW:r17 具体要求:光源 Z%GTnG|rG GDYFU*0 "Jjs"7 sC[yI Up 具体要求:用于准直的消色差透镜 y9#$O(G & cNy {pb>$G:gfx 6#j$GH * 0&ByEN99 SI:U0gUc 9N%JP+<89 {JV@"t-X3" 具体要求:分束器 pZ#ap<|>I j3q~E[Mz\ %4\OPw& [m+iQVk' 具体要求:参考光路反射镜 =)O,`.M.Y 1FtM>&%4 c9R5w.t: " P)*FT
TO2c"7td ~2EH OO{ 具体要求:测试光路反射镜 65ly2gl %gnM(pxl 6h3HDFS7s PA6=wfc 具体要求:探测器 ,@m@S^ Q-#$Aa `.y}dh/+0W PpLU 结果:3D光线追迹 LQnkcV bqanFQj yfU<UQ!1 '03->7V 结果:场追迹 v#=`%]mL `Q+moX
>:=|L%]s;\ `:'w@(q 结果:移动样品的场追迹结果 LJX-AO.4 `si#aU =66Nw(E. 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 "m{,~'x
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