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光学测量 > 干涉测量 3I"xuKxc ?*{Vn5aX{ 任务/系统说明 *KMW6dg; c @U\d<{w
V4["+Y b0(bL_, 亮点 _nUvDdEs, QIK;kjr*A3
+.czj,Sq \GF9;N}V •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; +hIC N,8! •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; 0:1[F!]'b 3rxB]- 具体要求:光源 e(z'uA{! hL?"! nB|m!fi< n<)gS7 具体要求:用于准直的消色差透镜 bMA\_? 'DhH:PR ,J@A5/B,AA JEL.*[/ o8RVmOXe kB!
iEoIBA P&snIJ v1R t$[ 具体要求:分束器 ZZ? KD\S5 { Mv$~T|e7 WC7ltw2 r\j*?m ] 具体要求:参考光路反射镜 -d*zgP 5/E7@h , {W' 9k i-YSt5iq
*SmR|Qy ,hVDGif 具体要求:测试光路反射镜 _O$7*k w(N$$ ]aZ3_<b |?gO@?KDZ 具体要求:探测器 k .#I ;7 m\.(- ,]L sX"u fo"%4rkL 结果:3D光线追迹 OpLo[Y\ H/^t]bg, PNp-/1Cx Q/%]%d 结果:场追迹 t%fcp (7 O?NS
eia>Y$ \%czNF 结果:移动样品的场追迹结果 {3qlx1w <- (n48 CQns:.`$` 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 ukDaX
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