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光学测量 > 干涉测量 iC0,zk4 & !<^j !'2 任务/系统说明 Oy`\8*Uy__
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n[S*gX0 亮点 ..{^"`F Q
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(e IxU&o' •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； E1Aa2 •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； Jj!tRZT
< 1%XN 具体要求：光源 _Ws k3AP X_S]8Aa  ~ (P\F&A(& O.f3 (e! 具体要求：用于准直的消色差透镜 5*'N Q010 a9JJuSRC x(6.W"-S  Uy'ZL(2 XzFqQ- H z#67rh {  aL6 5t\2 I{UB!0H 具体要求：分束器 (: k`wh& zq>"a&Y,  v" TH[}C9D
xH- k~# 具体要求：参考光路反射镜 6>7LFV1tvy K4L#%KUPW  R.$Y1= U6
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32' 9Ch. 具体要求：测试光路反射镜 :WTvP$R wWswuhq<  a m%{M7":7
J=bOw/ / 具体要求：探测器 X2 kLbe \K= PIcH  / '+JP4mK $l"(tB7d 结果：3D光线追迹 2xm?,p` I#e *,#'S  gvt 4'kp $
$+z^%'_ 结果：场追迹 @&>
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*Y?]="8c#; 结果：移动样品的场追迹结果 OPh@H.)^ sTY l' Ieg  hZG{"O!2 s 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 2M`Ni&v
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