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光学测量 > 干涉测量 F_M~!]<na r,Y/4(.c7U 任务/系统说明 n)wpxR n_!]B_Vd$
s6eq?1l3 B9;,A;E}; 亮点 (-G(^Tn Vqv2F @.
[<3Q$*Ew y!{/'{?P •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; D .oS8' •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; 5>z:[OdY* 5
a*'N~ 具体要求:光源 Yf2+@E XM5;AcD +_|cZlQ& ][>M<J 具体要求:用于准直的消色差透镜 {]/Jk07 v,x%^gv 0 (1r>50Ge PUFW^"LV exrt|A]_[ @ T~#Gwv ZC\.};. C{I8Pio{b 具体要求:分束器 qeO6}A"^| PB3!; *IO;`k q,; $xn%i\ 具体要求:参考光路反射镜 C_khd" 3vGaT4TDx 1-Wnc'(OK :Ro"
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RxDxLU2kt (Ss77~W7 具体要求:测试光路反射镜 gJ[q
{b }zfLm`vJ t%YX-@ 9Nbg@5( 具体要求:探测器 O t4+VbB6 X=c
,`&^ uRq#pYn@ $v}8lBCr3 结果:3D光线追迹 /*p?UW<*4 d\<aJOi+- +q,n}@y= hu*>B 结果:场追迹 h'q0eqYeu) ws(}K+y_
ujHzG}2z )+{omQ7v 结果:移动样品的场追迹结果 UeiJhH,u $=g.-F%*= 6%hEs6-R 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 -0J<R;cVs
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