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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量 > 干涉测量 z(#CO<C.t  
    Tdxc%'l  
    任务/系统说明 :j[=   
    ll ^I ;o0  
    swg*fhJFB  
    w&Z.rB?  
    亮点 $\aJ.N6rb  
    UW Px|]RC  
     [33=+C a  
    Xc9NM1bp=  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; LYuMR,7E  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 CN6b 982&  
    &r!jjT  
    具体要求:光源 c3)6{  
    nFjaV`6`@  
    7WHq'R{@  
    h$d`Jmaq  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 POQ4&ChA  
    Dc3bG@K*G  
    #TIlM]5%  
    /BrbP7  
    pYj}  
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    ?:7.3{|Aq  
    EdCcnl?R6  
    具体要求:分束器 t?FPmbj v  
    rW2l+:@c  
    lrmz'M'  
    .G>6_n3  
    具体要求:参考光路反射镜 Ku8qn \2"  
    h@{CMe  
    W3xObt3w\  
    {qFAX<{D  
    +2m\Sv V  
    Cp]q>lM"  
    具体要求:测试光路反射镜 T*#<p;  
    O/ZyWT  
    ?V})2wwP  
    u:>*~$f   
    具体要求:探测器 \7q>4[  
    b|U3\Fmc  
    51puR8AG>  
    `7_s@4:  
    结果:3D光线追迹 R-5e9vyS  
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    Gx-tPW}  
    ;CA7\&L>  
    结果:场追迹 I z)~h>-F  
    ys9MV%*  
    okD7!)cr=  
    y73@t$|  
    结果:移动样品的场追迹结果 B3yp2tncj  
    BoXGoFn  
    Q".AmHn  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 WC 5v#*Jd  
     
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