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光学测量 > 干涉测量 zR:L!S A}9`S6 @@ 任务/系统说明 ~q.F<6O %J?xRv! @Cyvf5|bL 1.GQau~ 亮点 )Nw8O{\ B~ GbF*j M5X&}cN6 |0b`fOS •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; 013x8!i •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; A?P_DA cF}".4|kZ< 具体要求:光源 :g0zT[f ]w8(&,PP V b ?oJhR wlqksG[B 具体要求:用于准直的消色差透镜
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@ |/{=ww8| oD.Cs' :crW9+ 8cIKvHx 1>h]{%I $%#!bV O_7|C\] 具体要求:分束器 aX'*pK/- p_%Rt"! n Dxz~8 ?CPahU 具体要求:参考光路反射镜 bq*eH (qx htF] W|z '\iCP1>+S ?Z/V~, 2^nxoye W^l-Y%a/o 具体要求:测试光路反射镜 1oGw4kD^x >|UOz& S.NPZ39}ZE }K|oicpUg 具体要求:探测器 3f{3NzN +cN8Y}V 64tvP^kp M .mfw#* 结果:3D光线追迹 s;Q!X ?Q Ad_hKO
_w+Qy. (f"4,b^] 结果:场追迹 &Z%?!.4j@ U>N1Od4vTO MQ6KN(?\ZL 0 @oJFJrO 结果:移动样品的场追迹结果 y}|s&4Sq 0 kW,I +CNv l 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 oCz/HQoBk
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