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光学测量 > 干涉测量 z(#CO<C.t Tdxc%'l 任务/系统说明 :j[= ll
^I;o0
swg*fhJFB w&Z.rB? 亮点 $\aJ.N6rb UW Px|]RC
[33=+Ca Xc9NM1bp= •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; LYuMR,7E •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; CN6b982& &r!jjT 具体要求:光源 c3)6{ nFjaV`6`@ 7WHq'R{@ h$d`Jmaq 具体要求:用于准直的消色差透镜 POQ4&ChA Dc3bG@K*G #TIlM]5% /BrbP7 pYj} Nkx W*w%}l ?:7.3{|Aq EdCcnl?R6 具体要求:分束器 t?FPmbjv rW2l+:@c lrmz'M' .G>6_n3 具体要求:参考光路反射镜 Ku8qn\2" h@{CMe W3xObt3w\ {qFAX<{D
+2m\Sv V Cp]q>lM" 具体要求:测试光路反射镜 T*#< p; O/ZyWT ?V})2wwP u:>*~$f
具体要求:探测器 \7q>4[ b|U3\Fmc 51puR8AG> `7_s@4: 结果:3D光线追迹 R-5e9vyS JjG>$z Gx-tPW} ;CA7\&L> 结果:场追迹 I z)~h>-F ys9MV%*
okD7!)cr= y73@t$| 结果:移动样品的场追迹结果 B3yp2tncj BoXGoFn Q".AmHn
通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 WC
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