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光学测量 > 干涉测量 d|XmasGN `
J]xP$) 任务/系统说明 pj0fM{E
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|t))u`~ 亮点 X8i(~
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7G< t"' •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； T-gk <V •对相干效应以及干涉图样的高速仿真； Kc #|Z
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x@$RS+] 具体要求：光源 ; Y"N6% im]g(#GnKh  JN4fPGbV n_Onr0EvO 具体要求：用于准直的消色差透镜 <@G8ni eS'yGY0b C$d>_ r  .&1C:> =WG= C1Z c>HK9z{  M6r c!K ~6aCfbu%V 具体要求：分束器
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x;LzG t:w 具体要求：参考光路反射镜 El-
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?F7o!B 具体要求：测试光路反射镜 r JJ[X4$ MFt*&%,JX  71fk.16
W_`A"WdT. 具体要求：探测器 ]y@F8$D! 5 f J[}~  \4d.sy0&>- C&~1M}I 结果：3D光线追迹 Ju2 l?Rr X \ H Z9S=  ?GA&f2]a /9pM>Cd*Z 结果：场追迹 4|?{VQ *sw7niw
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C? 4JXW 结果：移动样品的场追迹结果 X2|Y %+)o'nf"U  R\|lt)h 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 Z8#Gwyinx
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