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光学测量 > 干涉测量 VN`.*B|9[ e= i X]%^ 任务/系统说明 ocGrB)7eD
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 q5;dQ8Y ?
ZH Ti4JY 亮点 q?!HzZ
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Rqe. =+Qs •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换； ^ 4`aONydl •对相干效应以及干涉图样的高速仿真；
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_vTr?jjfK 具体要求：光源 lHM+<Z +[76 _EXy  $hm[x$$ !v8R( 具体要求：用于准直的消色差透镜 mG[jR*JW 5 } %R 0YiTv;mq;  Mt.Cj;h@^[ ?t 'V5$k\ o;@~uU  MT!Y!*-5
f& <+45JI 具体要求：分束器 k L DpZ{ f1vD{M ;  8UU
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F!z ^0+H( 具体要求：参考光路反射镜 3dN`Q:1R9 /?; 'y,(Q 
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Ph yIea 具体要求：测试光路反射镜 /ZyMD(_J LDQ,SS,  5Npxs&Ea
.2& L. 具体要求：探测器 =\lw.59 1["i, 8zB  'LMj.#A<g [ gT }<W 结果：3D光线追迹 KO " / Z3&}C h  L2 >e@p\> 3RaW\cWzg 结果：场追迹 A, F~*LXm <8}FsRr;J
 l/={aF7+
*k7BE_&*0Z 结果：移动样品的场追迹结果 ~ vA{I%z5~ %rrA]\C'  hdDT'+ 通过扫描样品的轴向位置，可以研究出样品的形貌。 /K|(O^nw
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