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光学测量 > 干涉测量 sVl:EVv W;x LuKIG 任务/系统说明 /SM#hwFxJ& )UU6\2^
oTa+E'q cngPc]?N 亮点 / z>8XM& #S74C*'8
$G([#N< V\lF:3C •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; gGz_t,= •对相干效应以及干涉图样的高速仿真; #[rFep t$ ~:C 具体要求:光源 +( 7vmC. 4'eVFu+62 '`VO@a ^Q+5M"/8 具体要求:用于准直的消色差透镜 B'~i Z65 L7'X7WYf& GnHf9
JrR CZno2$8@e hzVr3;3Zn
JZ0+VB-3U `)_FO]m}jS L.&Vi"M <@ 具体要求:分束器 T{2//$T? pNme jz:
jS)-COk =7Gi4X% 具体要求:参考光路反射镜 3JO:n6 XSIO0ep 5 `mVe0uI A)0m~+?{J
w0OK.fj e/l?|+m 6 具体要求:测试光路反射镜 iFT3fP'> 5 5%$kAJZC- eh=bClk ::t!W7W 具体要求:探测器 vx ,6::%] 438>)= a.ME{:a% Cf 8-% 结果:3D光线追迹 $9b6,Y_- qt)mUq;> ? 7dDQI7^( gKEvgXOj 结果:场追迹 3Q6#m3AWY r+obm)Qtp
!kYmrj** ~#xRoBy3 结果:移动样品的场追迹结果 6H9]]Unju .h }D%Qa <0MUn#7' 通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 z#!Cg*K(
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