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    [技术]用于光学相干断层扫描技术的迈克尔逊干涉仪 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量 > 干涉测量 N% B>M7-=  
    s) t@ol  
    任务/系统说明 wm@@$  
    G>=*yqo  
    ?<,l3pwqa  
    E~T-=ocKE  
    亮点 ?81c 4w  
    ]c*4J\s  
    FUzzB94a  
    ~/U 1xk%  
    •从光线追迹分析到快速物理光学建模的简单转换; P;no?  
    •对相干效应以及干涉图样的高速仿真 ;1=1:S8  
    t+ TdLDJR  
    具体要求:光源 I,DS@SK  
    uMv,zO5  
    :4w ?#  
    O\tb R=  
    具体要求:用于准直的消色差透镜 T<>,lQs(a  
    `[yKFa I  
    =%O6:YM   
    MJ)RvNF  
    3M`M  
     > |=ts  
    6_;icpN]  
    4"ZP 'I;  
    具体要求:分束器 nFCC St$  
    /}Axf"OE  
    V Q@   
     /maJtX'  
    具体要求:参考光路反射镜 Yh7t"=o  
    ?j.,Nw4FC  
    9=tIz  
    q<<v,ihh  
    1GRCV8 "Z^  
    8Fh)eha9f  
    具体要求:测试光路反射镜 1I6px$^E\  
    q i;1L Kc  
    >:!5*E5?  
    ~ Iuf}D;  
    具体要求:探测器 %;' s4ly  
    T>Z<]s  
    e9tjw[+A  
    t@;p  
    结果:3D光线追迹 Fo_sgv8O<  
    ,`Z1m o>n  
    .P]+? %&  
    C) s5D  
    结果:场追迹 ]W!0$'o  
    vr l-$ii  
    7]bGc \  
    ^ytrK Q  
    结果:移动样品的场追迹结果 +sA2WK]  
    +\A,&;!SR  
    V!=,0zy~Z  
    通过扫描样品的轴向位置,可以研究出样品的形貌。 HC8e>kP9b  
     
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