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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 10-24
    光学测量>显微 @br@[RpB  
    {&2$[g=[ ^  
    任务/系统描述 =X-^YG3x  
    1.# |QX  
    Guk.,}9  
    )Y3EQxXa  
    亮点 [YC=d1F5  
    zRwb"  
    Yim{U:F  
    9[cp7 Rcb  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 W8w3~  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 m7$8k@r  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Q)09]hP[Xj  
    0:Ar| to$m  
    说明:光源 2R^O,Vu*W  
    J+Q+&-a  
    FH)t:!#  
    6!P`XTTE  
    说明:透镜系统 H@V 7!d  
    8g\wVKkTQp  
    OnZF6yfN=3  
    _i5mC,OffN  
    说明:样品结构 a%Uw;6|{  
    ]JOephX2R  
    9 |' |BC  
    #EJhAJ  
    说明:探测器 Aj [?aL  
    !X^Hi=aV  
    ,eR8 ~(`=  
    b9!.-^<8y  
    结果:3D光线追迹 94\t1fE  
    &~RR&MdZ2  
    BR+nL6sU  
    &J_Z~^   
    结果:场追迹矩形光栅 {@?G 9UypA  
    n5|l|#c$N  
    p8Iw!HE  
    mw_ E&v  
    结果:场追迹锯齿形光栅 rah,dVE]  
    !lAD q|$  
    sONBQ9  
     
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