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光学测量>显微 (g EBOol 1cxrH+N 任务/系统描述 rEv@YD
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YbR!+ 0\g s2teym,uG 亮点 Hv!U|L Mc=$/ o
>,TUZ j`oy`78O 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 6tX q: 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 !i{aMxUP 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 mIurA?&7! ~s%
Md 说明:光源 0vFD3}~> L\Aq6q@c Y?S!8-z jB`,u|FG 说明:透镜系统 j!_;1++q
5Ec6),+& .>CPRVuVI LwrUQ) 说明:样品结构 5XO;N s l9}3XI.= [.m`+ ?
K;dp 说明:探测器 GO8GJ;B-U H#@^R( 1|RANy ^.KwcXr 结果:3D光线追迹 .JYaH? d^RxQuA
/~}}"zx& |y&*MTfV4L 结果:场追迹矩形光栅 :QpuO1Gu u6T+Cg -j%,Oo j:5=s%S 结果:场追迹锯齿形光栅 q-.,nMUF ~R_ztD+C( PfreAEv,
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