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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量>显微 [3++Q-rR=  
    a4FvQH#j  
    任务/系统描述 bH+p5Fd;  
    t&(}`W  
    ;5 cg<~t  
    79<{cexP  
    亮点 DPn]de:e  
    IbQ3*  
    )sG`sET]`f  
    hKb-l`KO  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ']1j M n  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 m sS5"Qr  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 W[A;VOj0$  
    uJ,>Y# ?  
    说明:光源  :0ZFbIy  
    yyfm  
    ZRO   
    W0eb9g`s  
    说明:透镜系统 ),5^bl/  
    17[7)M88  
    po+>83/!oq  
    A:F*Y%ZW  
    说明:样品结构 t_c;4iE  
    >5)E\4r-  
    8C4DOz|  
    D]v=/43  
    说明:探测器 "ZF:}y  
    'E+Ty(ED5  
    F>E'/r*  
    M >Yx_)<U  
    结果:3D光线追迹 oEvXZ;F@.  
    !]4'f/  
    T(K~be  
    P4"_qxAW  
    结果:场追迹矩形光栅 a)GL z  
    m5 r65=E  
    MrEyN8X  
    W4Nbl  
    结果:场追迹锯齿形光栅 61>@-55k9  
    IQxY]0\uf6  
    x9R_KLN:;  
     
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