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光学测量>显微 @br@[RpB {&2$[g=[ ^ 任务/系统描述 =X-^YG3x 1. #
|QX Guk.,}9 )Y3EQxXa 亮点 [YC=d1F5 zRwb" Yim{U:F 9[cp7 Rcb 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 W8w3~ 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 m7$8k@r 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Q)09]hP[Xj 0:Ar|to$m 说明:光源 2R^O,Vu*W J+Q+&-a FH)t:!# 6!P`XTTE 说明:透镜系统 H@V 7!d 8g\wVKkTQp OnZF6yfN=3 _i5mC,OffN 说明:样品结构 a%Uw;6|{ ]JOephX2R 9|'
|BC #EJhAJ 说明:探测器 Aj[?aL !X^Hi=aV ,eR8~(`= b9!.-^<8y 结果:3D光线追迹 94\t1fE &~RR&MdZ2 BR+nL6sU &J_Z~^ 结果:场追迹矩形光栅 {@?G 9UypA n5|l|#c$N p8Iw!HE mw_ E&v 结果:场追迹锯齿形光栅 rah,dVE] !lAD
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