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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量>显微 (gEBOol  
    1cxrH+N  
    任务/系统描述 rEv@Y D  
    x%}^hiO<q  
    YbR!+ 0\g  
    s2teym,uG  
    亮点 Hv!U| L  
    Mc=$/ o  
    >,TUZ  
    j`oy`78O  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 6tXq:  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 !i{aMxUP  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 mIurA?&7!  
    ~s% Md  
    说明:光源 0vFD3}~>  
    L\Aq6q@c  
    Y ?S!8-z  
    jB`,u|FG  
    说明:透镜系统 j!_;1++q  
    5Ec6),+&  
    .>CPRVuVI  
    LwrUQ)  
    说明:样品结构 5XO;N s  
    l9}3XI.=  
    [.m`+  
    ? K ;dp  
    说明:探测器 GO8GJ;B-U  
    H#@^R(  
    1|RANy  
    ^.KwcXr  
    结果:3D光线追迹 .JYaH?  
    d^RxQuA  
    /~}}"zx&  
    |y&*MTfV4L  
    结果:场追迹矩形光栅 :QpuO1Gu  
    u6T+Cg  
    -j%,Oo  
    j:5=s%S  
    结果:场追迹锯齿形光栅 q-.,nMUF  
    ~R_ztD+C(  
    PfreAEv,  
     
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