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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 10-24
    光学测量＞显微 ZL|aB886  
    y r (g/0  
    任务/系统描述 {C |R@S  
    5xH=w:  
     ~IhAO}1  
    q,v<:sS9T  
    亮点 3%v)!dTa<^  
    GDu^P+^  
     _p$/.~Xo9  
    ^ h=QpH  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 )O'LE&kQ|  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 2|pTw5z~  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 Xv1vq -cM  
    X[tt'5  
    说明：光源 :a wt7lqv  
    d$IROZK-D  
    !GOaBs  
    @9/I^Zk  
    说明：透镜系统 Y ^^4n$  
    }*fBHzNN  
    sn"((BsO<  
     yan^\)HZ  
    说明：样品结构 rr# nBhh8  
    ~${~To8$CW  
    161P%sGx2  
    i/:L^SQAq  
    说明：探测器 \,R;  
     _a09;C  
    d4o ^+\  
    OP/DWf  
    结果：3D光线追迹 !h? HfpYv  
    @*%3+9`yq  
     kn3w6]  
    Hf4_zd  
    结果：场追迹矩形光栅 n;Bb/Z!~  
    u(vZOf]jL  
    CR4O#f8\  
     6_mi9_w  
    结果：场追迹锯齿形光栅 a (U52dO,  
    ?Q:SVxzUd  
    }s,NM%oI  
     
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