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光学测量>显微 [3++Q-rR= a4FvQH#j 任务/系统描述 bH+p5Fd; t&(}`W ;5 cg<~t 79<{cexP 亮点 DPn]de:e IbQ3* )sG`sET]`f hKb-l`KO 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ']1j Mn 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 msS5"Qr 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 W[A;VOj0$ uJ,>Y#
? 说明:光源 :0ZFbIy y yfm ZRO W0eb9g`s 说明:透镜系统 ),5^b l/ 17[7)M88 po+>83/!oq A:F*Y%ZW 说明:样品结构 t_c;4iE
>5)E\4r- 8C4DOz| D]v=/43 说明:探测器 "ZF:}y 'E+Ty(ED5 F>E'/r* M >Yx_)<U 结果:3D光线追迹 oEvXZ;F@.
!]4'f/ T(K~be P4"_qxAW 结果:场追迹矩形光栅 a) GLz m5r65=E MrEyN8X W4Nbl 结果:场追迹锯齿形光栅 61>@-55k9 IQxY]0\uf6 x9R_KLN:;
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