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光学测量>显微 0+e }$i/4?dYsQ 任务/系统描述 IKV!0-={!z r1:CHIwK
wf`A&P5tF bEln.) 亮点 mM:%-I\$ 1)5$,+~lL
OX%#8Lx Jv} &8D 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 M.+h3<%^ 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 cQ
|Q-S 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ;cB3D3fR. sNM ]bei 说明:光源 `aTw!QBfG x#gZC1$Y B<i(Y1n[ LI].*n/v 说明:透镜系统 v3]5`&3~ *2pf>UzL KWojMPs %uCsCl 说明:样品结构 x"!`JDsS U.X`z3q U$Z<lx2P u /]P 说明:探测器 ` FOCX; `mA;1S *<X1M~p$ )K$YL='kX 结果:3D光线追迹 Lq;T\m_de lX.-qCV"B
U8J9 #+: v>j,8E 结果:场追迹矩形光栅 eL~3CAV{ b
b.UtoPz e ^oGiL~ |L`U2.hb 结果:场追迹锯齿形光栅 r}es_9*~Z ?dbSm3 DP0@x+`k
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