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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量>显微 0+e  
    }$i/4?dYsQ  
    任务/系统描述 IKV!0-={!z  
    r1:CHIwK  
    wf`A&P5tF  
    bEln.)  
    亮点 mM:%-I\$   
    1) 5$,+~lL  
    OX%#8Lx  
    Jv}&8D  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 M.+h3<%^  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 cQ |Q-S  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 ;cB3D3fR.  
    sNM ]bei  
    说明:光源 `aTw!QBfG  
    x#gZC 1$Y  
    B<i(Y1n[  
    LI].*n/v  
    说明:透镜系统 v3]5`&3~  
    *2pf> UzL  
    KWojMPs  
    %uCsCl  
    说明:样品结构 x"!`JDsS  
    U.X` z3q  
    U$Z<lx2P  
    u /]P  
    说明:探测器 ` FOCX;  
    `mA;1S  
    *<X1M~p$  
    )K$YL='kX  
    结果:3D光线追迹 Lq;T\m_de  
    lX.-qCV"B  
    U8J9 #+:  
    v>j,8E  
    结果:场追迹矩形光栅 eL~3CAV{  
    b b.UtoPz  
    e^oGiL ~  
    |L`U2.hb  
    结果:场追迹锯齿形光栅 r}es_9*~Z  
    ?dbSm3  
    DP0@x+`k  
     
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