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光学测量>显微 iTh:N2/-vc p}b/XnV$~ 任务/系统描述
'uDjFQX sAJ7R(p -tsDMji~V OX:O^ (-r, 亮点 \qvaE+ nn b8Gcr 2g9G{~,@g q}BzyC=:n 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ZI;<7tF_z 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ; |/leu8 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 V(MFna) oY~ Dg 说明:光源 juF{}J2 D0(xNhmKz I
V%VU vKwQXR~C 说明:透镜系统
8@{OR"Ec 8mLP5s!7 MF3b{|Z )? M9|u 说明:样品结构 g[>\4B9t }0`nvAf ,B&fFis 8 #X5K 说明:探测器 ; R=.iOn H`8``#-|@S ']-@?sD$ j6~nE'sQ 结果:3D光线追迹 *rZ^^`4R rKHY?{! c H-@V< dUgrKDNyA 结果:场追迹矩形光栅 ~1m2#> 7J28JK e6X[vc|Y} thO ~=RB 结果:场追迹锯齿形光栅 ]u-]'P 22<0DhJ m+{K^kr[
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