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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 10-24
    光学测量>显微 iTh:N2/-vc  
    p}b/XnV$~  
    任务/系统描述 'uDjFQX  
    sAJ7R(p  
    -tsDMji~V  
    OX:O^ (-r,  
    亮点 \qvaE+  
    nnb8Gcr  
    2g9 G{~,@g  
    q}BzyC=:n  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 ZI ;<7tF_z  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 ; |/leu8  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 V(MFna)  
    oY~ Dg  
    说明:光源 juF{}J2  
    D0(xNhmKz  
    I V%VU  
    vKwQXR~C  
    说明:透镜系统  8@{OR"Ec  
    8mLP5s!7  
    MF3b{|Z  
    )?M9|u  
    说明:样品结构 g[>\4B9t  
    }0`nvAf  
    , B&fFis  
    8 #X5K  
    说明:探测器 ;R=.iOn  
    H`8``#-|@S  
    ']- @? sD$  
    j6~nE'sQ  
    结果:3D光线追迹 *rZ^^`4R  
    rKHY?{!  
    cH-@V<  
    dUgrKDNyA  
    结果:场追迹矩形光栅 ~1m2#>  
    7J28JK  
    e6X[vc|Y}  
    thO ~=RB  
    结果:场追迹锯齿形光栅 ]u-]'P  
    22<0DhJ  
    m+{K^kr[  
     
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