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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 10-24
    光学测量＞显微 ,K9f_bv  
    kUHE\L.Y]  
    任务/系统描述 Lm)\Z P+W  
    =d;Vk  
     N]/!mo?  
    3NK ^AaTK  
    亮点 :K.4n  
    Fw4*  
     vFmJ;J  
    l0]d  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 MFit|C  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 v[k5.\No  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 6iezLG 5  
    Bn wzcl  
    说明：光源 h+7>#*DH  
    eOl KbJU  
    5t:8.%<UK  
    <|6%9@  
    说明：透镜系统 /)|X.D  
    > R^@Ww;|q  
    (g8*d^u#PO  
     L-i>R:N4  
    说明：样品结构 3C>qh{z"  
    `i!wq&1g7  
    B~WtZ-%%E  
    ]L_w$ev'  
    说明：探测器 &wH:aD  
    Xg<[fwW  
    UV7%4xM5v  
    dXvt6kF  
    结果：3D光线追迹 P!g-X%ngo  
    Qu*1g(el!o  
     9>*c_  
    my\&hCE  
    结果：场追迹矩形光栅 LC69td&  
    ReB7vpd  
    RNJ FSD.  
     3 pWM~(#>-  
    结果：场追迹锯齿形光栅 f|3q^wjs  
    +",S2Qmo  
    dz9Y}\2tf  
     
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