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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 10-24
    光学测量＞显微 Do@:|n  
    E\N?D  
    任务/系统描述 fFD:E} >5  
    D[.; H)V  
     e(/~;"r{  
    G #.(% ,  
    亮点 \Q.Qos  
    4am`X1YV#  
     dI!x Ai  
    H"PnX-fGN  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 K5U=%z  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 FY%v \`@1*  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 y7#$:+jQv  
    b#p)bcz!I  
    说明：光源 j?Ki<MD1  
    ]PVPt,c  
    HA%% WSuf  
    mG[S"?C  
    说明：透镜系统 Uq/#\7/rL  
    \tFg10  
    d#:&Uw  
     +pU\;x  
    说明：样品结构 r(`;CY]@  
    j&(2ze:=*$  
    #~um F%#  
    A:Z$i5%'  
    说明：探测器 '0g1v7Gx  
    %V-\|cw   
    [Af&K22M(X  
    q0Fq7rWP  
    结果：3D光线追迹 g ]|K@sm  
    mIVnc`3s  
     @/}{Trmg/  
    M0`nr}g  
    结果：场追迹矩形光栅 }^uUw&   
    d=%:rLm$  
    Y(IT#x?p  
     Q+|8|V}w  
    结果：场追迹锯齿形光栅 eUvIO+av  
    LO@.aJpp  
    <,qJ% kc  
     
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