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光学测量>显微 QJNFA}*> dx]>(e@(t{ 任务/系统描述 $e\M_hp*J <{pz<io) SuznN
L=/$ 0YzpZW"+ 亮点 $(
)>g>% 0V]s:S @o^Ww wBzC5T%, 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 l0]
EX>"E 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 D$N/FJ8|G 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 'yth'[ Q?T]MUY(L 说明:光源 E4!Fupkpf 51u0]Qx;fm >7r!~+B"9' ~
1 pr~ 说明:透镜系统 yVc(`,tZ( m*;ERK +V+a4lU14 d3Rw!slIq 说明:样品结构 DJir { \F
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i!cCMh8 结果:3D光线追迹 9kojLqCT nm+s{ 8f7>?BUS, ccnK#fn v 结果:场追迹矩形光栅 C>~TI,5a3 OTp]Xe/ FqifriLN {T8Kk)L 结果:场追迹锯齿形光栅
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