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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    光券
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 [:o#d`^  
    ":Q70*xSm  
    任务/系统描述 qj|GAGrQ2  
    +V) (,f1  
     Yc %eTh  
    +vQyHo  
    亮点 (]pQ.3  
    i{,>2KVC|  
     0e:aeLh  
    xS.0u"[  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 >#'6jm  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 c" l~=1Dr  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 kTzZj|l^\  
    .`iq+i~  
    说明：光源 DJ\lvT#j  
    \!%3giD5!  
    iU3co|q7  
    o;O_N^_W  
    说明：透镜系统 A_g'9  
    IuTTMAt  
    )j$Bo{  
     \/5 8#  
    说明：样品结构 |[qI2-el?  
    ( R0   
    ,Pl[SMt!  
    iX,Qh2(ig  
    说明：探测器 mX#T<_=d  
    <l\FHJhjq  
    qaUHcdH  
    d BJM?/  
    结果：3D光线追迹 A*$vk2VWw  
    OLiYjYd  
     I[R?j?$}>  
    # ><.zZ  
    结果：场追迹矩形光栅 5Ph"*Rz%  
    4b (iGLrt0  
    & z?y  
     j\ )Qn 2r  
    结果：场追迹锯齿形光栅 CfVz'  
     l[ L{m7  
    |GMK@Q'0:  
     
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