切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 283阅读
    • 0回复

    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5734
    光币
    22822
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量>显微 IrLGAQ0  
    ahB qYA K9  
    任务/系统描述 >| R'dF}  
    }cKB)N BJb  
    )9QtnM  
    yIMqQSt79z  
    亮点 GIC1]y-'  
    X#B b?Pv  
    MmuT~d/  
    wQkM:=t5  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 @-N` W9  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 K =g</@L6R  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 :+rGBkw1m  
    #(8|9  
    说明:光源 $pGT1oF[E  
    ]Bw0Qq F#  
    1>!LK_  
    Tb/TP3N  
    说明:透镜系统 0XHQ 5+"8  
    Qzi?%&  
    }pc9uvmIJ  
    P]E-Wp'p  
    说明:样品结构 W U(_N*a  
    g?C;b>4  
    ny={OhP-  
    ~Bd=]a$mj  
    说明:探测器 H}@:Bri  
    k9|5TLXq?  
    eim+oms  
    C@rGa7  
    结果:3D光线追迹 .R9Z$Kbq  
    U, 6iT  
    k4TWfl^}9  
    5E:$\z;  
    结果:场追迹矩形光栅 pl[J!d.c  
    rr<E#w  
    B5e9'X^ [  
    D28`?B9 (  
    结果:场追迹锯齿形光栅 2h E(h  
    wBPo{  
    $Y$9]G":  
     
    分享到