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光学测量>显微 <D P8a<{{ =P%&]5ts 任务/系统描述 j XH9Pq4 $}AbR:z
1BEs> Sm J?dLI_{< 亮点 e=l:!E10 +TyN;e
~8yh,U sQJGwZ7 显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 |Iw glb!k 对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 R*!s'R 在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 *:Rs\QH
[_nOo ` 说明:光源 m^0vux %ioVNbrR7 lKB9n}P co~NXpqg 说明:透镜系统 ALy7D*Z]w =@0J:"c tRpY+s~Fq ^86M94k 说明:样品结构 bU}v@Uk J
jm={+@+ aG83@ABx K2yu}F ^} 说明:探测器 lcm3wJ'w FuBt`H ?].MnwYo #G.eiqh$a 结果:3D光线追迹 SDC'S]{ew ol*,&C:{
mEbI\!}H0 I`_I^C3 结果:场追迹矩形光栅 Z[OX{_2]K .}/8] W2#<]]- w;gk=<_ 结果:场追迹锯齿形光栅 0U@#&pUc !8[T*'LJ-
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