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    [技术]对高数值孔径显微镜下不同样品研究 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-10-24
    光学测量＞显微 G fEX>  
    p Z: F:  
    任务/系统描述 T~0k"uTE  
    EJ@p-}I!  
     h:Gu`+D>W  
    ~\LCvcY"X  
    亮点 pi<TFe@eG  
    Gs+3e8  
     )G^ KDj"  
    UcOk3{(z$q  
    显微镜系统中对光栅进行完全矢量分析 L>y J  
     对复杂系统进行数秒内的快速高性能分析 aI^/X {d  
     在光线追迹以及物理光学建模间简单切换 0j"8@<  
    U4aU}1RKz  
    说明：光源 #S&Tkip]"W  
    d)4 m6  
    z|EEVNFd&  
    ,(8;y=wux  
    说明：透镜系统 tg]x0#@s  
    Bp8'pj;~  
    if|+EN%  
     6f')6X'x  
    说明：样品结构 q\m2EURco  
    @=}YTtq  
    ={K`4BD  
    'EDda  
    说明：探测器 v\m ]A1  
    S;$-''o?9  
    =|3fs7  
    &l3iV88  
    结果：3D光线追迹 1 $/%m_t  
    3|.um_  
     ~HOy:1QhE=  
    _?OW0x4  
    结果：场追迹矩形光栅 JSW^dw&  
    u%w`:v7Yo(  
    B!vmQR*1  
     $5Xh,DOg  
    结果：场追迹锯齿形光栅 C(00<~JC  
    (h >-&.`&  
    uc;8 K,[t  
     
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