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光学测量>显微镜 6C\WX(@4 VCwC$ts !M(SEIc4A [Y
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<Iikx m/,80J8L+f hT `&Xb 说明:透镜系统 b"nkF\P@Fj DiGHo~f xM@s`s|n @!}/$[hu1 说明:样品结构 c
*<m. @"wX#ot 7U^{xDg.b H!Dj.]T 说明:探测器 Q)lD2 4wGBB{X ivB,s5< )>"pm{g2 结果:3D光线追迹 |WSpWsr, ?GqH/
(O .}T- R? W;os4'h$ 结果:光线追迹 8&3&^!I 5.DmMG[T^= 角向偏振光 salDGsW^ 3\{\ al pp(?rE$S o*2Mjd]r 结果:光线追迹衍射级 \(;u[ ` N
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