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光学测量>显微镜 51 4Z<omrK mI"D(bx\ : @6mFTV &RO7{,`
亮点 !D:Jbt@R<n =45W\
',)7GY/n~ / t5p- 在显微镜系统中,完整的矢量分析光栅 zvO:"w} 数秒内快速的高性能分析复杂系统 89HsPB1"t 简单地在光线追迹和物理光学模拟之间切换 ~3CVxbB^< 研究偏振效应 bL1m'^r @i LIU}+ 说明:光源 =a$Oecg? 角向偏振光 N3%*7{X
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;N{u 径向偏振光 QDTNx!WL Hd &{d+B {5j66QFoo }dYBces 说明:透镜系统 T
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vSvk 说明:样品结构 M(Zc^P}N Z`Z5sj 4{ F]+~x/! J'T=q/ 说明:探测器 %)(Cp-b! =^;P#kX
fV\]L4% ~O6\6$3b5E 结果:3D光线追迹 W!L+(!&H 7'lZg<z{~j yxWO[ Z
S<wj*"|.s 结果:光线追迹 ipE]}0q /j2H A^GT 角向偏振光 %;xOB^H^ aHzHvl #FxPj-3(ix u9qMqeF 结果:光线追迹衍射级 @OpNHQat9 {R6HG{"IS6 角向偏振光 s%4M$e )?! [}t }2 8= ?/hZb"6W 结果:场追迹 ,M5}4E7L%s 角向偏振光 BqK(DH^9N ]b?9zeT*'l ,5
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