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光学测量>显微镜 #Tr;JAzVjG ;X?Ah AZh@t?) =gxgS<bde 亮点 08<k'Oi] i_j9/k
4yA9Ni 7Vz[ji 在显微镜系统中,完整的矢量分析光栅 Tns?mQ 数秒内快速的高性能分析复杂系统 g*:ae;GP 简单地在光线追迹和物理光学模拟之间切换 d$2@, 研究偏振效应 *(?U nz,Mqol 说明:光源 ig2{lEkF 角向偏振光 hQgk.$g V_)5Af3wY
N?MJ#lC
F e%P+KX D8r>a"gx !Iw{Y' 径向偏振光 P!`Q_h6a ,!o\),N K7t&fDI F&W0DaH 说明:透镜系统 Hmz=/.$ e5*5.AB6& |i,zY{GI+2 /3CHE8nSh 说明:样品结构 v`[Tl =:xV(GK} J~_L4*Jw [
4?cM\_u@ 说明:探测器 5PPPd-'Z_ P#dG]NMf
u4b3bH9U 4_6W s$x 结果:3D光线追迹 d-6sC@PB P?Gd}mdX?m ^%K1R;
+z]:CF 结果:光线追迹 lKh2LY=j d&PE,$XC 角向偏振光 HMEs8. F]K$u<U hYP6z^ {#dp-5V 结果:光线追迹衍射级 Mr5('9%
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