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FRED作为光机一体化的开发平台,可以用在光学设计过程中的每一个环节,包括最初的概念验证,整合光学设计和机械设计,对虚拟原型进行全面分析,对模型参数进行快速公差分析和优化,以及将供应商的目录集成到软件中以供加工和系统调试。它的显示窗口为3D实体显示工作平台,具备快速的光线追迹功能,并且可以同时允许127核CPU进行多线程运算及支持多节点分布式计算和GPU计算。 b| L;*<KU )iN;1> ]_s3<&R 应用领域 9X*Nk~}Y F[ E'R.: [color=rgba(0, 0, 0, 0.9)]
FRED 应用领域非常广泛,只要是几何光学可分析的系统皆可使用 FRED 来分析、模拟。常见的应用领域为:照明系统、导光管、投影系统、激光、干涉、杂散光、鬼影分析、生物医学、其它光学系统原型之系统设计等等,无论是简易或是复杂的成像与非成像系统结构,FRED都可以准确的建构及分析。 JxVGzb`8 SzW;Yb"#^k
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I%fEf 功能特色 khy'Y&\F; ob7'''i [color=rgba(0, 0, 0, 0.9)]
•全面透析光机系统设计 %-n)L [color=rgba(0, 0, 0, 0.9)]
•照明与非成像系统设计 Nv5^2^Sc= [color=rgba(0, 0, 0, 0.9)]
•杂散光与鬼像分析 Pe%[d[k [color=rgba(0, 0, 0, 0.9)]
•相干光束传播模拟 ~5HkDtI) [color=rgba(0, 0, 0, 0.9)]
•自发热辐射分析 ktyplo#F [color=rgba(0, 0, 0, 0.9)]
•公差分析与系统调试 S!?T0c?> [color=rgba(0, 0, 0, 0.9)]
•显卡快速光线追迹 rL5=8l .<m]j;|6 +<bj}" 技术指标 ASXGM0t '?rR>$s [color=rgba(0, 0, 0, 0.9)]1)
可进行PSF
、MTF、点列图、三阶像差、光程差、杂散光路径、重点采样、鬼像、PST与关键被照面、冷反射、红外热成像分析。 3fOOT7!FL [color=rgba(0, 0, 0, 0.9)]2)
可分析光学系统的三阶像差、波像差、振幅、相位、能量等光信息。 \[G'cE [color=rgba(0, 0, 0, 0.9)]3)
真实三维模型渲染和实时显示窗口,可以直观快速的找到整机装配中不匹配等常见问题。 UQ0!tFx [color=rgba(0, 0, 0, 0.9)]4)
具有快速的序列与非序列光线追迹能力,光线追迹数量数没有限制。 *V&M5 [color=rgba(0, 0, 0, 0.9)]5)
内置混合优化功能,可进行局部和伪全局优化。 s<