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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要 wD Y7B  
    &jd<rs5}  
                               :u+#:8u  
    9rc n*sm  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 lD=j/    
    yp'>+cLa  
    建模任务     JU+'UK630  
    mV]g5>Q\  
    ]Y! Vyn  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 X,CF Y  
    euC,]n.  
     L uK m  
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    图层矩阵解算器 !9OgA  
    ,QAp5I%3=  
     U MIZ:*j  
    CUcjJ|MZ  
    Qj[O$L0 $  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 ?E@[~qq_  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 rs+37   
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 (ZsR=:9(  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 ^Pp FI  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     <cjTn:w  
    [p<[83' ]  
    更多的信息： '~a$f;: Dv  
    GQWTQIl]  
    总结-组件 a}hM}U!  
    b;ZAz  
    =_3qUcOP  
     ~[6|VpGc:  
    %W@IB8]Vr  
    两条光谱线的可视化 _ @76eZd  
    c17==S  
     6%1o<{(%f  
    精细vs.涂层反射率 6GvnyJ{[  
    i|'t!3I^m  
    $4,6&dwg  
    T6#GlO)8)  
    精细度vs.涂层反射率 4tTJE<y  
    T0jJp7O  
    NWj@iyi<  
    内部谐振增强     W{aNS@1  
    _"`h~jB  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 zf u78  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 ~Wv?p4  
    9B0"GEwrs  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 lNAHn<ht  
    r U5'hK  
    VirtualLab Fusion技术 }C}_ I:=C  
    D3ad2vH  
     uD3_'a  
     
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