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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-08-07
    摘要  ^! /7  
    IQ[ ?ej3W  
                               bA\TuB  
    3)v6N_  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 B$qmXA)ze  
    T5_z^ 7d  
    建模任务     Dt?O_Bdv[  
    d&'z0]mOe  
    %J4]T35^2  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 _KiaeVE  
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     "8 |y  
    'SF+P)Kmz  
    图层矩阵解算器 FSv')`}  
    Ao)hb4ex  
     /=Bz[ O  
    @>f]0,"(  
    RP'`\| |*  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 cAJKFu X"  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 Vt{C80n&N  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 rm2"pfs  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 O @fX +W?U  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     _l]`Og@Y  
    YAnt}]u!"  
    更多的信息： RL/~E xYC  
    Q(h,P+  
    总结-组件 EJY[M  
    p#~' xq  
    Im%|9g;P  
     [^t"Hf  
    ie+&@u  
    两条光谱线的可视化 j{N;2#.u  
     !J!zi  
     T.="a2iS2  
    精细vs.涂层反射率 }/BwFB+(/  
    s`F v!  
    m! &bK5+*  
    K6=-Zf  
    精细度vs.涂层反射率 R-]QU`c  
    vfzGRr  
    u.iFlU   
    内部谐振增强     #EtS9D'd+  
    vFY/o,b \  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 M`\c'|i/  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 0$l=ME(  
    VA.jt}YGE  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 "T5?<c  
    kH*l83  
    VirtualLab Fusion技术 I2("p.+R  
    vgOmcf%;  
     ncJ}h\:Sk  
     
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