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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    离线infotek
    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 08-07
    摘要 BEdCA]T  
    e &6%  
                               dSM\:/t  
    W }N UU  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 yW_yHSx;  
    @!8aZB3odt  
    建模任务     /9`4f"  
    WtT;y|W  
    dWAt#xII  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 c;l!i-  
    Q:}]-lJg  
     JJ: ku&Mb  
    !~ox;I}S  
    图层矩阵解算器 bi<<z-q`wJ  
    ACszx\[K3  
     )U/jD  
    3I6ocj [,  
    BU`X_Z1)  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 Cf% qap#  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 U3(+8}Q  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。  :eN&wQ5q  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 >F/^y O  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     ) .~ "  
    @8d 3  
    更多的信息： I2 [U#4n  
    <c+.%ka  
    总结-组件 Oa|c ?|+  
    x#1 Fi$.  
    ejN/U{)jK'  
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    dlu*s(O"  
    两条光谱线的可视化 0TU3 _;o  
    O?uICnmi6  
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    精细vs.涂层反射率 AwM`[`ReE  
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    精细度vs.涂层反射率 /%@;t@BK4  
    epy2}TI  
    C}huU  
    内部谐振增强     4cjfn'x  
    -TUJ"ep]QJ  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 L\Se ,  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 I}C2;[aB  
    3>O|i2U  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 #2tmi1 ya  
    dGKo!;7{  
    VirtualLab Fusion技术 +%dXB&9x|Z  
    E7Lqa S  
     ">V1II 7  
     
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