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    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

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    科学家
     
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    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 08-07
    摘要 ]vj=M-:+  
    H~UxVQLPp  
                               S'm&Ll2i@  
    G&$+8 r  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 }w .[ZeP  
    gBfYm  
    建模任务     VcKufV'  
    X-&t!0O4}`  
    ZRN*.  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 !N:!x[5  
    b)RU+9x &  
     m`C c U`s  
    +InAK>NZ'  
    图层矩阵解算器 GADbXp3  
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     Lh.?G#EM  
    8?#4<4Ql8  
    aHx(~&hRcL  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 YCZl1ry:V=  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 6p`AdDV  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 6' }oo'#~  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 )HbsUm#  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     Lt>"R! "x  
    ): HjpJvF  
    更多的信息： (8DJf"}  
    8sb<$M$c  
    总结-组件 ,>%2`Z)  
    ?oF+?l  
    ;v%Fw!b032  
     G?$|aQ0j  
    DZo7T!  
    两条光谱线的可视化 G?D7R/0)  
    z%-Yz- G9  
     L&V;Xvbu%  
    精细vs.涂层反射率 B1dVHz#  
    s%F}4W2s  
    NH&/=  
    Y"~Tf{8  
    精细度vs.涂层反射率 _h|rH   
    l_tr,3_w  
    wGdnv}#  
    内部谐振增强     A;~lG3j4  
    y)iT-$bQ  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 wG;#L7%  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 V5w00s5?%  
    K%AbM#o<  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 7PQ03dtfg  
    R gY-fc0  
    VirtualLab Fusion技术 gB/4ro8  
    k"_i7  
     On x[}x  
     
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