切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • ZEMAX光学系统设计实战 Zemax光学设计从基础到实践 成像衍射光学元件设计及应用 现代光学与光子学技术
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 161阅读
    • 0回复

    [技术]用Fabry-Pérot标准具检测钠D线 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    5279
    光币
    20639
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 08-07
    摘要 yL0f1nS  
    ,4[dLWU  
                               6+.>5e  
    lC0~c=?J  
    Fabry-Pérot标准具广泛应用于激光谐振器和光谱学中，用于敏感波长的滤波。通常，它们由两个高反射(HR)涂层表面和之间的空气(或玻璃)组成。在这个例子中，建立了一个以硅为间层的标准具光学测量系统，以测量钠D线。利用非序列场追迹技术，充分考虑了多元反射对条纹对比度的影响，研究了涂层的反射率对条纹对比度的影响。 PU W[e%  
    {Fbg]'FQ  
    建模任务     > 2#%$lX6  
    93j{.0]X  
    5sCFzo<=vh  
    具有高反射(HR)涂层的标准具 !O|ql6^;  
    XAe\s`  
     2 P=[  
    pz{'1\_+9  
    图层矩阵解算器 bmu6@jT  
    L>dkrr)e  
     LheFQ A  
    k<H%vg>{~s  
    2 nv[1@M  
    分层介质组件采用图层矩阵电磁场求解器。该求解器工作在空间频域(k-域)。它包含 1BJ<m5/1%  
    1. 一个特征模求解器为每个均匀层和 av-#)E  
    2. 一个s矩阵，用于在所有接口处匹配边界条件。 SxJ$b  
    本征模求解器计算各层均匀介质k域的场解。S-矩阵算法通过递归方式匹配边界条件计算整个图层系统的响应。 nZfs=@w:y  
    这种方法以其无条件的数值稳定性而闻名，因为与传统的传递矩阵不同，它避免了计算步骤中的指数增长函数。     we3tx{j  
    .u l 53 m  
    更多的信息： `H\)e%]  
    "+)K |9T#  
    总结-组件 g+xw$A ou  
    O gmSQ  
    ,MQVE  
     W^es;5  
    r`j Wp\z  
    两条光谱线的可视化 !;S"&mcPDJ  
    5Fm av5  
     WK0C  
    精细vs.涂层反射率  B/G-Yh$E  
    Mo D?2J  
    Z<U>A   
    S,''>`w  
    精细度vs.涂层反射率 7{e=="#*  
    iXFP5a>|  
    * RWm47  
    内部谐振增强     5+- I5HX|~  
    n2 {SV  
    整个传输值将在谐振波长的倍数处达到峰值。这些曲线的确切形状也取决于标准具表面的反射率。 \ECu5L4  
    请注意，在我们的示例中，使用的是真实的涂料。通过设计，具有更大反射率的涂层利用更多的图层堆叠，因此更厚，这有效地改变了标准具曲面的距离。这导致了谐振峰的轻微偏移。 Ye5jB2Z  
    glE^t6)  
    注意: 传输值取自艾里图案的中心 ecj7BT[mLI  
    DIaYo4  
    VirtualLab Fusion技术 N>|XS ,  
    +pf5\#l?  
     {^}0 G^  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表