D<6kAGE 时间地点 <2d@\"AoHE 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司
KL`>mJo$ 苏州黉论教育咨询有限公司
5Oq ;V:7 授课时间:2024年9月20(五)-22(日)共3天 AM 9:00-PM 16:00
hDsORh!i 授课地点:深圳市光明区凤凰街道光明大道与科裕路交汇处尚智科园1栋1B座1503室
0yNlf-O 课程讲师:讯技光电高级工程师
$g;xw?~# 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐)
ro@BmRMW k0?6.[ku 课程简介 &nProzC 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与
软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间
光学系统的杂散光来源,以及对红外
光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。
/d'u1FnA= 课程分为两部分,第一部分:杂散光分析与控制技术(2.5天),第二部分:角分辨散射光测量技术(0.5天)
&r%3)Z8Et DBDfBb 课程大纲 T7'$A!c 1. 杂散光介绍与术语
^+<uHd> 1.1 杂散光路径
D IN
PAyY 1.2 关键面和
照明面
-Ma"V 1.3杂光内部和外部杂散光
N\$wpDI~ 2. 基本辐射度量学-辐射
q4=RE 2.1 BSDF及其散射模型
")OLmkC 2.2 TIS总散射概念
iN*@f8gf 2.3 PST(点源透射比)
X9HI@M]h 3. 杂散光分析中的
光线追迹
cpV i9] 3.1 FRED软件光线追迹介绍
R&0l4g-4> 3.2构建杂散光模型
9n7d
"XD2 定义光学和机械几何
a=dN.OB}F7 定义光学属性
cj
*4XYu 3.3 光线追迹
i\G3
u# 使用光线追迹来量化收敛速度
Q<pM
tW 重点采样
.@Cshj 反向光线追迹
tS7u#YMh 控制光线Ancestry以增加收敛速度
\2!$HA7P 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度
p%-9T>og 使用GPU来进行追迹
}^q#0`e(y RAM内存使用设置
}d(6N&;"zN
:83"t-O8[ 4.散射模型
cw\a,>]H 4.1来自表面粗糙的散射
pxj"<q`nw8 低频、中频、高频
x3 S RMS粗糙度与BSDF的关系
n6f|,D!? 由PSD推导BSDF
tDo0Q/` 拟合BSDF测量数据
f/ZE_MN2 4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射
Cn<