,Ihuo5>/z 时间地点 sW+YfJT 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司
dra'1E 苏州黉论教育咨询有限公司
5/DTE:M< 授课时间:2024年9月20(五)-22(日)共3天 AM 9:00-PM 16:00
:ORCsl6- 授课地点:深圳市光明区凤凰街道光明大道与科裕路交汇处尚智科园1栋1B座1503室
7CUu:6% 课程讲师:讯技光电高级工程师
&T]+g8 '' 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐)
%0INtq ~j3B' 课程简介 shxr^ 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与
软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间
光学系统的杂散光来源,以及对红外
光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。
+,7dj:0S 课程分为两部分,第一部分:杂散光分析与控制技术(2.5天),第二部分:角分辨散射光测量技术(0.5天)
!798%T +%X_+9bd 课程大纲 k@5#^G 1. 杂散光介绍与术语
[V{JuG;s 1.1 杂散光路径
7GfgW02 1.2 关键面和
照明面
,oIZ5u{#, 1.3杂光内部和外部杂散光
%H>vMR-,~ 2. 基本辐射度量学-辐射
mLk@&WxG 2.1 BSDF及其散射模型
)(*A1C[ 2.2 TIS总散射概念
ogMLv} 2.3 PST(点源透射比)
R%aH{UhE` 3. 杂散光分析中的
光线追迹
<?52Svi}} 3.1 FRED软件光线追迹介绍
t2p/NIn 3.2构建杂散光模型
?Li^XONz 定义光学和机械几何
ixBM>mRK 定义光学属性
OnH>g" 3.3 光线追迹
C-qsyJgZy 使用光线追迹来量化收敛速度
h@Ea$1'e, 重点采样
7t5X 反向光线追迹
Y@KZ:0< 控制光线Ancestry以增加收敛速度
ro@Zbm;P 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度
@5
kKMz 使用GPU来进行追迹
(&PamsV*8 RAM内存使用设置
i0-!!
pPo?5s 4.散射模型
|{PQ0DS 4.1来自表面粗糙的散射
>1pD'UZIy7 低频、中频、高频
90sM S]a RMS粗糙度与BSDF的关系
B_hob 由PSD推导BSDF
Qu!\Cx@ 拟合BSDF测量数据
|rdG+> 4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射
*Vfas|3hZI 4.3 来自颗粒污染的散射
au"HIyi?k 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论)
P)1@HDN== 颗粒密度函数模型
kjaz{&P 案例:计算
激光通过金属粉尘的吸收
+n,8o:fU: 4.4 来自黑处理表面的散射
FPaj
p 4.5 孔径衍射
1GOa'bxm 杂散光程序中的孔径衍射
qqw6p j 衍射元件的衍射特性
Hxb{bF 案例:衍射杂散光分析
l]WV?^* 5. 大气湍流散射
6$ IXER 6 热辐射
~(aq3ngo. 红外热辐射的杂散光分析
cD0 冷反射仿真
wrqdQ}@( 7. 鬼像反射
yel>-=Vn 鬼像反射
sB0+21'R 表面镀膜
G8u8&| 表面镀AR增透膜的仿真
yl 0?Y 8.
光学设计中的杂散光控制
O b8[P= 8.1使用视场光阑
<g*rTqT' 8.2减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量
>=U$s@ 8.3使用眩光光阑(Lyot stop)
Xid>8 8.4使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射
dZ%b|CUb 8.5 使用滤光
`yQHPN0/ 8.6 显微镜中的杂散光分析
3BY/&'oX 9. 挡板和冷窗的设计
*}/xy
SH3 9.1主挡板和冷屏的设计
iS=T/<|? 9.2 挡光环的设计
X[@>1tl 槽型挡光环
IE_@:]K}Ja 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔
"VT5WFj 案例:望眼镜系统的挡板的
优化 n:*+pL; 10. 角分辨散射光测量技术
So`xd
*C! 10.1 PSD测量技术与PSD转BSDF
>E]*5jqU 10.2 BSDF散射测量仪光路结构介绍
,1~Zqprn 10.3 BSDF散射测量关键
参数介绍
Phb<##OB 10.4 使用BSDF测量数据提升仿真精度
鬼像路径在3D视图中的渲染和照度分析
vnN_csJ#^ 11.答疑
DVB:8"Bu 对此课程感兴趣,可以扫码加微联系 @=;6:akz`
dH`a|SVW9