7Y)s#FJ 时间地点 _En]@xK3& 主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司
O8iu+}]/6 苏州黉论教育咨询有限公司
?f9$OLEB 授课时间:2024年9月20(五)-22(日)共3天 AM 9:00-PM 16:00
uFWvtL?;_ 授课地点:深圳市光明区凤凰街道光明大道与科裕路交汇处尚智科园1栋1B座1503室
W!y)Ho 课程讲师:讯技光电高级工程师
-;f+;
M 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐)
A=W5W5l(> VGfD;8]z 课程简介 f7S^yA[[ 杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与
软件,BSDF与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间
光学系统的杂散光来源,以及对红外
光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。
c_t7RWV} 课程分为两部分,第一部分:杂散光分析与控制技术(2.5天),第二部分:角分辨散射光测量技术(0.5天)
|^Ur 3/:LYvM< 课程大纲 aam1tm#Q 1. 杂散光介绍与术语
{Qm6?H 1.1 杂散光路径
/O+e#z2f< 1.2 关键面和
照明面
'H|;%J6d> 1.3杂光内部和外部杂散光
K7+^Yv\YQx 2. 基本辐射度量学-辐射
8Er[M 2.1 BSDF及其散射模型
JE/l#Q! 2.2 TIS总散射概念
jt/l,=9YK 2.3 PST(点源透射比)
zz[g{[SN 3. 杂散光分析中的
光线追迹
t&8<k+m 3.1 FRED软件光线追迹介绍
UP5%C; 3.2构建杂散光模型
\l>qY(gu 定义光学和机械几何
4{g:^?1= 定义光学属性
C5BzWgK 3.3 光线追迹
anpJAB:1 使用光线追迹来量化收敛速度
)H.ubM1 重点采样
\\y}DNh 反向光线追迹
>t2]Ssi( 控制光线Ancestry以增加收敛速度
,HQ1C8 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度
4V!1/w 使用GPU来进行追迹
:v|r= #OI RAM内存使用设置
yLV2>kq
|2WxcW]U.% 4.散射模型
_-g-'Hr+N 4.1来自表面粗糙的散射
n$nne6|O 低频、中频、高频
&n}8Uw0440 RMS粗糙度与BSDF的关系
)i},@T8[ 由PSD推导BSDF
_G_ &Me0 拟合BSDF测量数据
l2z`<2mp 4.2 来自划痕(光学损伤坑)的散射
de*,MkZN 4.3 来自颗粒污染的散射
;a#}fX 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论)
Xi 1q]ps 颗粒密度函数模型
';i"?D?NAk 案例:计算
激光通过金属粉尘的吸收
6RR4L^(m 4.4 来自黑处理表面的散射
rTN"SQt 4.5 孔径衍射
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