切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 321阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5734
    光币
    22822
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-07-18
    摘要 ]2+g&ox4'  
    yZSvn[f  
    z^s ST  
    bdV3v`  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 iUr xJh  
    Y~oT)wTU  
    建模任务 MB:n~>ga  
    Nm8w/Q5D`  
    NMjnL&P`  
    N"DY?6  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 'o\;x"YJ  
    $<e +r$1  
    B[NJ^b|  
    gw Qvao  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 Xa`(;CLW?  
    7o{*Z  
    7;HUE!5,^l  
     
    分享到