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摘要 &LM@xt4"^[ -0a3eg)Z*
;PVE= z+y @j\;9>I/ 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 &5jc
&CS #}.{|'L 建模任务 .\H-?6R^ 8r}tf3xMCM
yq, qS0Fo 6&+dpr&c~= 由于组件倾斜引起的干涉条纹 $
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