-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2024-11-14
- 在线时间1524小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 cf;Ht^M\ 9){ q)I|2~Q c^ eBcJm 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 \"^%90F FC>d_=V 建模任务 j6>tH"i A WJWtUa @.$MzPQQI Ijo(^v@ 由于组件倾斜引起的干涉条纹 m_lrPY- |nxdB&1n 8T5k-HwE S@}4-\ 由于偏移倾斜引起的干涉条纹
(_+;R HeIS;gfUY Q,e*#oK3$
|