切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • 189阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    上一主题 下一主题
    离线infotek
     
    发帖
    5302
    光币
    20742
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 07-18
    摘要 Br}0dha3E  
    <F&53N&Zc  
    x~n]r[!L  
    Y<)9TU:D!  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 4&_|myO&  
    QQW]j;'~  
    建模任务 3c[< #] 8S  
    p`T,VU&.  
    8iXt8XY3  
    0oNy  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 %WO4uOi:@  
    DEN (pA\  
    T@gm0igW/;  
    a F5=k: k  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 O]-s(8Oo3  
    _2wH4^Vb  
    !v?WyGbUg  
     
    分享到