锥形折射是由
光学各向异性引起的众所周知的现象。当聚焦
光束沿其光轴通过双轴
晶体传播时，就会发生这种现象：透射场演化为一个高度依赖于输入光束
偏振状态的锥体。基于这一现象已经发展了多项应用；用它作为偏振测量的基础是最有趣的方法之一。
4{r_EV[( S3k>34_%9 通过快速的
物理光学建模和设计软件
VirtualLab Fusion，这种效应及其应用可以得到充分的研究。看看下面的例子，我们首先演示了使用圆偏振输入光束的圆锥折射的基本
原理，然后分析了在分离臂中有两个双轴晶体的偏振探测仪的设计。
20t</lq. 双轴晶体中的锥形折射 CF`fn6
证明了KGd晶体中的圆锥形折射。 j> 0~"A
锥形折射作为偏振测量工具的模拟
KQ x<{-G6 这个用例演示了锥形折射应用于偏振测量工具。
