中科飞测“一种光学设备及其对准方法和检测方法”专利公布

据国家知识产权局公告，深圳中科飞测科技股份有限公司“一种光学设备及其对准方法和检测方法”专利公布，申请公布号：CN113514477A，申请日2020-04-10。

专利摘要显示，一种光学设备的调节方法，光学设备包括对准参考物和待对准探测装置，待对准探测装置包括待对准探测器和镜头，待对准探测器用于在待测物表面形成待对准视场区；该调节方法包括：提供参考探测装置，用于在待测物表面形成参考视场区；使对准参考物处于参考视场区中；根据对准参考物在参考视场区中的位置，对参考探测装置进行第一调整处理，使对准参考物处于参考视场区中的预定区域；第一调整处理之后，将参考探测装置替换为待对准探测装置，待对准探测装置在待测物表面形成的待对准视场区处于对准参考物的预定位置。该调节方法具有速度快和精度高的优点。

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