[技术]全场光学相干扫描干涉仪 [复制链接]

摘要 0& >H^  
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扫描干涉仪是用于执行表面高度测量的技术。 通过利用白光光源的低相干性，仅当光程长度差在相干长度内时才会出现干涉图样。 因此，它可以实现精确的显微镜测量。在本案例中，氙气灯和迈克尔逊干涉仪被构建并用于测量表面平滑变化的样品。 @yd4$Mv8%  
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•设置输入场 z'T)=ycT  
−基本光源模型[教程视频] .ERO|$fv  
•使用导入的数据自定义表面轮廓 oh#\]c\f  
•定义元件的位置和方向 2'=T[<nNB  
− LPD II：位置和方向[教程视频] uqz]J$
 
•正确设置通道以进行非序列追迹 wtje(z5IL  
−非序列追迹的通道设置[用例] c'/l,k  
•使用参数运行检查影响/变化 6aM*:>C"  
−参数运行文档的使用[用例] )95f*wte  
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