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摘要 :uJHFF xg $h}5cl
+z[+kir cm0$v8 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 |e<$ =W&m{F96 建模任务 7GTDe'T ol K+|nR
-u7NBtgUh {V pk o 由于组件倾斜引起的干涉条纹 c39j|/!;Y bU[_YuJbM
##%&*vh &Yo|Pj 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 NG`Y{QT6N ,!, tU7-H
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