-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2024-12-27
- 在线时间1617小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 B$k<F8!% N2_j[Pe SGW2' p6[a"~y 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 omM*h{z$$ /)SwQgK# 建模任务 B&0^3iKFi :X[(ymWNE rE"`q1b# c/ wzV 由于组件倾斜引起的干涉条纹 <@n/[ +3 )2}{fFa% TX]4Y953D ZLdvzH@' 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 9+.0ZP? 2Z6#3~ #Nxk3He]8 [7?K9r\#
|