-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2024-11-14
- 在线时间1524小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 :k(aH Ua Rjh/M`| C9bf1ddCW& =&}dP%3LC) 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 C:P, q6 ;PLby]=O 建模任务 bNc=}^ E-!`6 jfgAI7;b y;Dw%m 由于组件倾斜引起的干涉条纹 q$H'u[KQ06 n{UB^-}5 eb+[=nmP *4r;H2%c 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 81aY*\ 6'*?zZrz 1[B?nk ]2Lwd@
|