基础光斑分析仪

发布:wavelab86 2024-04-17 10:42 阅读:308
        产品概述 77y_?di^I  
        此系列产品是基础光斑分析仪产品,比较适合科研基础实验和低功率激光产品的测量,又因其体积小且结构兼容多面安装,产品也适合在工业应用中产品产线上产品调试和校准。目前已有多款产品已在客户产生线上批量应用。 w[g(8 #*  
;Y:_}kN8_  
j9)WInYc:  
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       产品特点: b-sbRR  
  具备高分辨率和小像素的特点 Sw##C l#  
       兼容脉冲和连续激光测量 ^A9D;e6!-  
       光斑直径测量范围20μm~23mm ^a9v5hu  
       接口高速USB3.0\GigE接口可选 'EsN{.l?  
       紧凑设计,标配支架,衰减,使用方便 z'cK,psq(  
       支持手动和自动实时曝光及增益调节 h@nNm30i  
+(>!nsf  
  典型应用: j@OGl&'^-  
  需要对激光光斑形状进行检测得场合,如激光生产,维护以及激光应用; i21ybXA=Z  
  光学器件质量检查; K@Z K@++  
  激光腔镜调整; lZyxJDZ A  
  外光路准直; e;LJdd  
  光纤对准耦合分析等。 'G3;!xk$  
UzLe#3MU  
  规格型号: :Ja]Vt  
uXxc2}  
:H}a/ x*ur  
4]\ f}  
      详细参数 B~p` 3rC  
ppv/ A4Kv  
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5)=XzO0  
Vf Jpiv1  
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FScE3~R  
      系统组成及外形尺寸: YHoj^=/b  
lYZ5FacqC  
     UNc!6Q-.  
a-I3#3VJ@  
      产品完整目录获取和咨询订购方式 _ZgIm3p0A  
      电话和微信号码:15172359028 V?{[IMRC  
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      技术支持邮箱:wys@focaloptics.com
关键词: 光学仪器检测
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