基础光斑分析仪

发布:wavelab86 2024-04-17 10:42 阅读:73
        产品概述 pkN:D+g S  
        此系列产品是基础光斑分析仪产品,比较适合科研基础实验和低功率激光产品的测量,又因其体积小且结构兼容多面安装,产品也适合在工业应用中产品产线上产品调试和校准。目前已有多款产品已在客户产生线上批量应用。 6Vbv$ AU  
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       产品特点: ENx@Ex  
  具备高分辨率和小像素的特点 m9<%v0r  
       兼容脉冲和连续激光测量 }8F$& AFt  
       光斑直径测量范围20μm~23mm %3c|  
       接口高速USB3.0\GigE接口可选 DkF2R @  
       紧凑设计,标配支架,衰减,使用方便 hp]ng!I{\u  
       支持手动和自动实时曝光及增益调节 {.3  
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  典型应用: `\F%l?aY  
  需要对激光光斑形状进行检测得场合,如激光生产,维护以及激光应用; %][$y 7  
  光学器件质量检查; U|Z>SE<k  
  激光腔镜调整; Ce5w0&VlS  
  外光路准直; /q"d`!h)w  
  光纤对准耦合分析等。 NBqV0>vR  
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  规格型号: 3q|cZQK!1  
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      详细参数 0ve`  
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      系统组成及外形尺寸: u JQaHL!  
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      产品完整目录获取和咨询订购方式 Wm$`ae   
      电话和微信号码:15172359028 *TM;trfz  
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      技术支持邮箱:wys@focaloptics.com
关键词: 光学仪器检测
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