基础光斑分析仪

发布:wavelab86 2024-04-17 10:42 阅读:231
        产品概述 TQE3/IL  
        此系列产品是基础光斑分析仪产品,比较适合科研基础实验和低功率激光产品的测量,又因其体积小且结构兼容多面安装,产品也适合在工业应用中产品产线上产品调试和校准。目前已有多款产品已在客户产生线上批量应用。 */nb%QV  
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       产品特点: *Z|!%C  
  具备高分辨率和小像素的特点 KNIYar*3  
       兼容脉冲和连续激光测量 ;o%r{:lng  
       光斑直径测量范围20μm~23mm `u%//m_(  
       接口高速USB3.0\GigE接口可选 {n$9o  
       紧凑设计,标配支架,衰减,使用方便 "E/F{6NH  
       支持手动和自动实时曝光及增益调节 ecA0z c~  
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  典型应用: IH}?CZ@{?  
  需要对激光光斑形状进行检测得场合,如激光生产,维护以及激光应用; HxU.kcf  
  光学器件质量检查; .Ks&r  
  激光腔镜调整; :'1ePq  
  外光路准直; W zy8  
  光纤对准耦合分析等。 *ubLuC+b  
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  规格型号: =;dupz\7  
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      详细参数 -a&wOn-W  
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      系统组成及外形尺寸: s67$tlV  
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      产品完整目录获取和咨询订购方式 J>!p^|S{  
      电话和微信号码:15172359028 '(^p$=3|@D  
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      技术支持邮箱:wys@focaloptics.com
关键词: 光学仪器检测
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