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摘要 Z<<gz[$+p X",0VO
C}'="g^=sl c@7hLUaE2 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 >1G*ya) jY+S,lD 建模任务 8I0Tu ~!9Px j*
!gfhEzY WcO,4: 由于组件倾斜引起的干涉条纹 {b0&qV 7O{O')o!
.4FcZJvy */y]!<\v!k 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 /JubiLEK &Z!K]OSY
&MZy;Sq RLOQ>vYY 文件信息 SuH.lCF-g yPh2P5}H>
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