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摘要 ;QI9 OcE@/ ^F^g(|(K
[6GYYu\ /VR~E'Cy% 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 D(b01EQ;d h5?^MRZS 建模任务
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?kjQ_K h nydH-;cz 由于组件倾斜引起的干涉条纹 ?sfqg gi Mj0,Y#=76
B,b8\\^k| |Xt G9A> 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 bWSN]]e1# AD?zBg Zu
%m&6'Rpfk ~nZcA^b#DQ 文件信息 k4+vI1Cs >Kgw2,y+
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