切换到宽版
  • 广告投放
  • 稿件投递
  • 繁體中文
    • Zemax光学设计从入门到精通 Zemax光学设计从基础到实践 成像衍射光学元件设计及应用 现代光学与光子学技术
    讯技光电:VirtualLab Fusion独家供应商 微小光学与微透镜阵列 光学设计与光学元件 计算光学带来的成像革命
    发帖 回复
    返回列表
    • 319阅读
    • 0回复

    [技术]马赫泽德干涉仪 [复制链接]

    		 上一主题 下一主题
    离线infotek
    科学家
     
    发帖
    5623
    光币
    22267
    光券
    0
    只看楼主 倒序阅读 楼主  发表于: 2024-04-07
    摘要 qjAWeS/  
    8 #X5K  
     >R{qESmP=  
    @pI5lh  
    干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 x6afI<dm  
     '$As<LOEd/  
    建模任务 qzw'zV  
    GhY1k";  
     l:6,QaT1  
    0qjXQs}  
    由于组件倾斜引起的干涉条纹 ' /Bidb?  
    m]_FQWfet  
     Kz<@x`0   
    X1[CX&Am  
    由于偏移倾斜引起的干涉条纹 !}\4u tHY  
    \7MHaQvS   
     =ItkFjhBc  
    *?+V65~dW  
    文件信息 c(co\A.]:6  
    Bx"7%[  
     Nfe>3uQK  
     
    回复
    举报
    分享到
    发帖 回复
    返回列表