-
UID:317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2024-06-07
- 在线时间1278小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 3`\)Qm W/I D8+:i _<G% } =^Al;W 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 p`LPO 4xNzhnp| 建模任务 7_ah1IEK $;%dQ!7* t>>\U X }x}JzA+2 由于组件倾斜引起的干涉条纹 >c:- ;( k VNLggeX'U 4 jeUYkJUM O1K~]Nt 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 y[@<goT k@= LR }D&fw=r"M yD9<-B<) 文件信息 (KxL*gB spt='!)4 ?*8HZ1m#
|