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摘要 -cXVkH{ %%O_:@9x,
]=0D~3o3 c%n%,R> 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 'aZAWY d Ce3
建模任务
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|-AR)Smt 37,)/8]lG 由于组件倾斜引起的干涉条纹 \l;H!y[ v".u#G'u
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aiZU I1Gk^wO 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 CH h6Mnw ws}>swR,
e-{4qt BtWm ZaKi 文件信息 .3,Ow(3l Vuo 8[h>
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