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摘要 *[jq& SuV3$-);z
V=>]&95-f tk 5p@l 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 l8%BRG Lcy6G%A 建模任务 7''iT{-[p \7o7~pll
|hDN$By YiL^KK 由于组件倾斜引起的干涉条纹 L&|^y8 lF7".
1Z(9<M1!M cs: ?Wq ^ 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 Az?^4 1r8 "N,@J-]/k
VGCd)&s NSzTl-eS 文件信息 F,mStw: k0b6X5
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