-
UID：317649
-
- 注册时间2020-06-19
- 最后登录2025-09-29
- 在线时间1866小时
-
-
访问TA的空间加好友用道具
|
摘要 B\} B
H
WF0[/ Y
 $* [-kIy Jv9yy~ 干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例，在非序列场追迹技术的帮助下，于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 qC aM]Y
X6g{qz Hg_ 建模任务 q-)Ynp4'
L
2:N @TP
 O'}
% Bjl z4 yV1 由于组件倾斜引起的干涉条纹 -^%YrWgd?
oDEvhN T
 <X,0\U!lL )0 W-S9e< 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 ,>Lj>g{~ 4BgrG[l)
 IJt8 *
cw nY[]k p@ 文件信息 3\jcq@N
M;Dk$B{;R
 N }tiaL4
|
