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摘要 s
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干涉测量法是一项用于光学测量的重要技术。它被广泛应用于表面轮廓、缺陷、机械和热变形的高精度测量。作为一个典型示例,在非序列场追迹技术的帮助下,于 VirtualLab Fusion中建立了具有相干激光源的马赫-泽德干涉仪。该例证明了光学元件的倾斜和位移对干涉条纹图的影响。 ;yk9(wea}" +Od1)_'\D3 建模任务 A5CdLwk EzzTJ> { c v;w K(-G: | 由于组件倾斜引起的干涉条纹 %/{IssCR7 @Ufa-h5"( 4mEzcwo' 07.nq;/R 由于偏移倾斜引起的干涉条纹 :wQC_; +IwdMJ8&8 P_,v5Qx"- bin6i2b 文件信息 ggerh# <T(s\N5B= ShC_hi
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