[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

摘要 iC=>wrqY>  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 x]x3iFD  
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1. 案例 a
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在VirtualLab Fusion中构建系统 Pg(Y}Tu  
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1. 系统构建模块 @ztT1?!e  
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2. 组件连接器 *u"%hXR  
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几何光学仿真 bHnKtaK4c  
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以光线追迹 uhfK\.3  
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1. 结果：光线追迹 E489
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  A&t8C8,  
快速物理光学仿真 Za|iU`e\  

M1-tRF  
以场追迹 DPxx9lN_rx  
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1. NA=1.4时的光栅成像 XKky-LeJ  
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Q^2dZXk~  
2.  NA=0.75时的光栅成像 5_E8 RAG  
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PljPhAce  
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3. NA=0.5时的光栅成像 @e3+Gs  
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