[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

摘要 i1ScXKO  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 h[mJ=LIrg  
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1. 案例 '<s54 Cb  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 &?$mS'P  
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1. 系统构建模块 =*R6O,  
p-r[M5;-^Q  

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2. 组件连接器 w+wtr[;wwL  
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几何光学仿真 jweX"G54R  
[r!f&R  
以光线追迹 0U~*uDU  
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1. 结果：光线追迹 80ox$U  
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  3I(;c ,S  
快速物理光学仿真 x[0O*ty-*<  
A$]s{`  
以场追迹 91]sO%3  
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1. NA=1.4时的光栅成像 wSw> UU  
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C}(@cn `L  
2.  NA=0.75时的光栅成像 Bhv$   
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3. NA=0.5时的光栅成像 #y[U2s Se  
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