[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

摘要 n-2!<`UFX  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 o2B|r`R  
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6\u. [2lE^  
1. 案例 *^Zt)U1$|  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 hSxK*.W*3  
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1. 系统构建模块 utRO?]%d !  
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2. 组件连接器 b:'8_jL  
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几何光学仿真 "9dZ z/{  
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以光线追迹 y`8U0TE3R  
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1. 结果：光线追迹 $[b}r#P  
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快速物理光学仿真 GFE3p  
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以场追迹 $L( ,lB  

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1. NA=1.4时的光栅成像 }"nm3\Df  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 ^`M%g2x  
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3. NA=0.5时的光栅成像 Jw}&[  
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