[技术]用阿贝判据研究显微系统的分辨率 [复制链接]

摘要 mM`wITy  
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显微系统的分辨率一般用阿贝判据进行表征。这也解释了物镜的数值孔径(NA)决定了光栅(作为样本)衍射阶在其后焦平面上的滤波。当高衍射级次的衍射被滤除后，像面不会发生干涉，因此不会成像。本实例演示了数值孔径NA对滤波效果和分辨率的影响。 foJdu+^  
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1. 案例 CPNL 94x  
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在VirtualLab Fusion中构建系统 w)Covz'uf  
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1. 系统构建模块 )M)7"PC  
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2. 组件连接器 fk_o@ G!0  
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  X7s `U5'l  
几何光学仿真 #dM9pc jh  
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以光线追迹 Q+YRf3$  
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1. 结果：光线追迹 r$2P;Cxj  
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  Nm|!#(L  
快速物理光学仿真 rF]h$Z8o  
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以场追迹 Th=eNL]  
x g0iN'e'K  
1. NA=1.4时的光栅成像 ?M[ A7?  
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2.  NA=0.75时的光栅成像 TYy.jFT-  
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3. NA=0.5时的光栅成像 v8y1b%  
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