时间地点主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司 e<_yr>9g"
授课时间：2024/4/12(五）-4/14（日）共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 CR *9-Y93
授课地点：上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 nq'v q] ]
课程讲师：讯技光电高级工程师&资深顾问 PqOy"HO
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) #Bo / 1G=
课程简介：当收到需求者的光学规格及非光学规格如环境测试要求时，既可以着手选用所需的基板，镀膜材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手，例如高反射镜不管波宽大小，开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础，倘若是截止滤光片，则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时，我们需要考虑商业软件或自行设计电脑软件来参与合成或优化，设计好之后，即刻进行制造成功率分析，亦看膜层厚度的误差值的容许度，若是镀膜机的精密度做不到，则要修改设计，重新分析直达合格为止。透明塑料基板质轻价廉，而且容易成型为非球面透镜，被广泛采用在光学系统中，如眼睛镜片、相机透镜、手机镜头、及显示器面板，如 OLED，近眼显示应用。但塑性及软性基板的低密度致使其具有吸水性，从而使薄膜与基板的附着性不佳。再者这些塑料基板比较柔软、容易刮伤、需要镀上硬膜保护。因此塑料透镜的镀膜除了抗反射，还要兼具免受刮伤的保护。本课程会从这些方面重点阐述塑料基底的镀制工艺及其物理特性。该课程一天会全面讲解光学薄膜分析软件 Essential Macleod 的操作方法，第二天和第三天会讲解薄膜设计和工艺上面的应用。 oECM1'=Bf
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课程大纲： 'v gO`
1. Essential Macleod 软件介绍1.1 介绍软件1.2 运行程序1.3 创建一个简单的设计1.4 通过剪贴板和文件导入导出数据1.5 约定-程序中使用的各种术语的定义 JGmW>mH
2. 光学薄膜理论基础 2m`4B_g A
2.1 介质和波
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2.2 垂直入射时的界面和薄膜特性计算 5f54E|vD
2.3 后表面对光学薄膜特性的影响 XTIRY4{
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3. 理论技术 W@S'mxk#*
3.1 参考波长与 g NW-l_]k
3.2 四分之一规则 7 V/yU5
3.3 导纳与导纳图 kBPFk t2
4. 光学薄膜设计 U3ygFW%
4.1 光学薄膜设计的进展 pB
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4.2 光学薄膜设计中的一些实际问题 xP@VK!sc
4.3 光学薄膜设计技巧 *%0f^~!G<p
4.4 特殊光学薄膜的设计方法 B x(+uNQ
4.5 优化目标设置 )9,*s !)9
4.6 优化方法（单一优化，合成优化，模拟退火法，共轭梯度法，准牛顿法，针形优化，差分演化法） dhW; |
5.常规光学薄膜系统设计与分析 ] o!#]]
5.1 减反射薄膜 W Y@x2bBi
5.2 分光膜 gto@o\&=
5.3 高反射膜 /Vpd*obMB
5.4 干涉截止滤光片 !g? ~<`
5.5窄带滤光片 "Y&+J@]
5.6负滤光片 nG#lr YZw
5.7 非均匀膜与Rugate滤光片 &77]h%B >
5.8 Vstack薄膜设计示例 M
mg#Vy~
5.9 Stack应用范例说明 #Id.MLHxA_
6.VR、AR及HUD用光学薄膜 Isq3YY
6.1 背景介绍 uCK!lq-
6.2 产品特性 ujcS>XN,1
6.3 典型VR系统光学薄膜设计分析 mB(*)Pw Z
6.4 典型AR系统光学薄膜设计分析 :oB4\/(G#
6.5 典型HUD系统光学薄膜设计分析 -_jV.`t
7.防雾薄膜 } ?P~qJ|1
7.1自清洁效应 @ 4:cn
7.2 超亲水薄膜 R|Ft@]
7.3 超疏水薄膜 oeXNb4; 4
7.4防雾薄膜的制备 &%pB; d k
7.5防雾薄膜的性能测试 @S~' m;
8.材料管理 da@y*TO#i
8.1 光学薄膜材料性能及应用评述 Fqzk/m
8.2 金属与介质薄膜 *jWU8.W
8.3 材料模型 Q:+Y-&||"
8.4 介质薄膜光学常数的提取 hMJ \a
8.5 金属薄膜光学常数的提取 [BhpfZNKRA
8.6 基板光学常数的提取 f5a%/1?
8.7 光学常数导出遇到的问题及解决思路 gB 3& A Q
9.薄膜制备技术 ?Di, '
9.1 常见薄膜制备技术 81a&99k #
9.2 光学薄膜制备流程 Y=G *[G#
9.3 淀积技术 w8%yX$<
9.4 工艺因素 hE:P'O1
10. 误差、容差与光学薄膜监控技术 o*n""m
10.1光学薄膜监控技术 _}] o~
10.2误差分析与监控决策 rOY^w9!
10.3Runsheet与Simulator应用技巧 OxF\ Hm)(
10.4膜系灵敏度分析 T
GMHo{ ]
10.5膜系容差分析 ./<3jf :
10.6误差分析工具 ^J>2 8Q\S
11. 反演工程11.1 镀膜过程中两种主要的误差（系统误差和随机误差） nVG\*#*]|
11.2 用反演工程来控制对设计的搜索 kSNVI-Wzu
12. 应力、张力、温度和均匀性工具 ?l,i(I
12.1 光学性质的热致偏移 "E pE!jh
12.2 应力工具 iy
tSC
12.3 均匀性误差(圆锥工具、波前问题) z i>f436-
13. 光学薄膜特性测量 w & RpQcV
13.1 薄膜光学常数的测量 Z-4A`@p
13.2 薄膜堆积密度的测量 QBto$!})
13.3 薄膜微观结构分析 D .C m&
13.4 薄膜成分分析 !xo@i XL
13.5 薄膜硬度、附着性及耐摩擦性的测量 U7crbj;c)d
13.6 薄膜表面粗糙度的测量 #Mbt%m
14. 项目管理与应用实例 &P3B
14.1 项目管理 8Z3+S)6
14.2 光学薄膜项目开发过程 *MagicA
14.3 客户需求分析 .M>u:,v
14.4 文档管理与报表生成 kq%`9,XE
15. 其他控制透反射方法 (%0X\zvu/
15.1 蛾眼抗反射结构 qC\$>QU}
15.2 线栅偏振片 x6DH0*[.
16. Q&A 6%S>~L66
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