时间地点主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司 1b LY1
授课时间:2024/4/12(五)-4/14(日)共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 %1UdG6&J_
授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 ZGgM-O1
课程讲师:讯技光电高级工程师&资深顾问 Y| 2Gj(*8
课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) #
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课程简介:当收到需求者的光学规格及非光学规格如环境测试要求时,既可以着手选用所需的基板,镀膜材料及膜数与厚度设计。设计开始可以从标准膜系着手,例如高反射镜不管波宽大小,开始我们一定是以四分之一波膜堆为设计基础,倘若是截止滤光片,则应以对称膜堆为设计基础。当初始设计无法满足要求时,我们需要考虑商业软件或自行设计电脑软件来参与合成或优化,设计好之后,即刻进行制造成功率分析,亦看膜层厚度的误差值的容许度,若是镀膜机的精密度做不到,则要修改设计,重新分析直达合格为止。透明塑料基板质轻价廉,而且容易成型为非球面透镜,被广泛采用在光学系统中,如眼睛镜片、相机透镜、手机镜头、及显示器面板,如 OLED,近眼显示应用。但塑性及软性基板的低密度致使其具有吸水性,从而使薄膜与基板的附着性不佳。再者这些塑料基板比较柔软、容易刮伤、需要镀上硬膜保护。因此塑料透镜的镀膜除了抗反射,还要兼具免受刮伤的保护。本课程会从这些方面重点阐述塑料基底的镀制工艺及其物理特性。该课程一天会全面讲解光学薄膜分析软件 Essential Macleod 的操作方法,第二天和第三天会讲解薄膜设计和工艺上面的应用。 w\{oOlE
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课程大纲: o"Mhwh
1. Essential Macleod 软件介绍1.1 介绍软件1.2 运行程序1.3 创建一个简单的设计1.4 通过剪贴板和文件导入导出数据1.5 约定-程序中使用的各种术语的定义 '^ob3N/Y [
2. 光学薄膜理论基础 2J1YrHj3
2.1 介质和波
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2.2 垂直入射时的界面和薄膜特性计算 Bf+7;4-
2.3 后表面对光学薄膜特性的影响 syB.Z-Cpd
3. 理论技术 /^9K Zj
3.1 参考波长与 g s F!nSr
3.2 四分之一规则 .j l|?o
3.3 导纳与导纳图 T^1]|P
4. 光学薄膜设计 ] IeyJ
4.1 光学薄膜设计的进展 Q3P*&6wA
4.2 光学薄膜设计中的一些实际问题
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4.3 光学薄膜设计技巧 mZ!1Vh
4.4 特殊光学薄膜的设计方法 KL^hYjC
4.5 优化目标设置 R\ZyS
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4.6 优化方法(单一优化,合成优化,模拟退火法,共轭梯度法,准牛顿法,针形优化,差分演化法) 72akOx
5.常规光学薄膜系统设计与分析 qrt2BT)
5.1 减反射薄膜 [
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5.2 分光膜 |4?O4QN
5.3 高反射膜 Fo$'*(i
5.4 干涉截止滤光片 IWs)n1D*]
5.5窄带滤光片 sUTfY|<7|
5.6负滤光片 E(/M?>t-
5.7 非均匀膜与Rugate滤光片 @p$$BUb
5.8 Vstack薄膜设计示例 Kq4b`cn{_
5.9 Stack应用范例说明 Api<q2@R
6.VR、AR及HUD用光学薄膜 rJws#^]
6.1 背景介绍 s!eB8lkcT
6.2 产品特性 @yxF/eeEy+
6.3 典型VR系统光学薄膜设计分析 0.kQqy~5
6.4 典型AR系统光学薄膜设计分析 kHx6]<
6.5 典型HUD系统光学薄膜设计分析 `p\@b~GM
7.防雾薄膜 w\(;>e@
7.1自清洁效应 na-mh
E,H
7.2 超亲水薄膜 u~\I
7.3 超疏水薄膜 5A`T}~"X
7.4防雾薄膜的制备 Yj#4{2A
7.5防雾薄膜的性能测试 S3F8Chk5
8.材料管理 { 2\.
8.1 光学薄膜材料性能及应用评述 &* 1iW(x
8.2 金属与介质薄膜 SU80i`
8.3 材料模型 jp|1S^b
8.4 介质薄膜光学常数的提取 6>R|B?I%
8.5 金属薄膜光学常数的提取 d^W1;0
8.6 基板光学常数的提取 y>jP]LR4
8.7 光学常数导出遇到的问题及解决思路 ,,o5hD0V9
9.薄膜制备技术 b@
S.
9.1 常见薄膜制备技术 .Mz'h9@
9.2 光学薄膜制备流程 wr{ [4$O
9.3 淀积技术 +#=l{_Z,ZJ
9.4 工艺因素 dRu|*s
10. 误差、容差与光学薄膜监控技术 [rf.&
10.1光学薄膜监控技术 rUOl+p_47
10.2误差分析与监控决策 TF7~eyLg
10.3Runsheet与Simulator应用技巧 jGaI6G'N
10.4膜系灵敏度分析 #V#sg}IhM?
10.5膜系容差分析 Uk@'[_1z
10.6误差分析工具 ne-;gTP;
11. 反演工程11.1 镀膜过程中两种主要的误差(系统误差和随机误差) KV { J>J1
11.2 用反演工程来控制对设计的搜索 KVA~|j B
12. 应力、张力、温度和均匀性工具 O;m@fS2%3
12.1 光学性质的热致偏移 ]UFbG40Zo
12.2 应力工具 d ub%fs
12.3 均匀性误差(圆锥工具、波前问题) Qqn9nO9
13. 光学薄膜特性测量 Z(0sMOaX
13.1 薄膜光学常数的测量 4ht+u
13.2 薄膜堆积密度的测量 3qNLosm#M
13.3 薄膜微观结构分析 7v{s?h->$
13.4 薄膜成分分析 TeXt'G=M
13.5 薄膜硬度、附着性及耐摩擦性的测量 hCFgZiH2
13.6 薄膜表面粗糙度的测量 D/x!`&.sN
14. 项目管理与应用实例 uFl19
14.1 项目管理 IwJ4K+
14.2 光学薄膜项目开发过程 .|Y&,?k|Y
14.3 客户需求分析 6tKCY(#oO+
14.4 文档管理与报表生成 .lE7v -e
15. 其他控制透反射方法 TOC2[mc'
15.1 蛾眼抗反射结构 'vc>uY
15.2 线栅偏振片 /.>8e%)
16. Q&A VsR8|Hn$
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