时间地点主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司
KRL.TLgq) 授课时间:2024/3/15(五)-3/17(日)共 3 天 AM 9:00-PM 16:00
bkd`7(r 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室
Fq~uuQ 课程讲师:讯技光电高级工程师
{.2\}7.c 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用)
0g[ %)C 课程简介杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与
软件,BSDF 与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间
光学系统的杂散光来源,以及对红外
光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。课程分为两部分,第一部分:杂散光分析与控制技术(2.5 天),第二部分:角分辨散射光测量技术(0.5 天)
IW~wO 1. 杂散光介绍与术语
Jw _>I 1.1 杂散光路径
G:1d6[Q5{ 1.2 关键面和
照明面
$w*L'
< 1.3 杂光内部和外部杂散光
P] *x6c^n 2. 基本辐射度量学-辐射
Tc(=J7*r& 2.1 BSDF 及其散射模型
RiQ]AsTtl 2.2 TIS 总散射概念
42]7N3:' 2.3 PST(点源透射比)
!p+54w\ 2 3.杂散光分析中的
光线追迹
I(^0/]' 3.1FRED软件光线追迹介绍
%rb$tKk 3.2构建杂散光模型
d%|l)JF*5 定义光学和机械几何
"jAd.x?X7e 定义光学属性
ZGZNZ}~# 3.3光线追迹
GqHW.s5 使用光线追迹来量化收敛速度
%_W4\ 重点采样
:V.@:x>id 反向光线追迹
$6Q^ur: 控制光线Ancestry以增加收敛速度
'yPKQ/y$x 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度
bVzi^R" 使用GPU来进行追迹
I4"p]>Y" RAM内存使用设置
Ysu\CZGX 4.散射模型
R`<^/h 4.1来自表面粗糙的散射
:m<&Ff} 低频、中频、高频
I6
?(@, RMS粗糙度与BSDF的关系
Uuy$F 由PSD推导BSDF
o{y}c-> 拟合BSDF测量数据
K ~mUO 4.2来自划痕(光学损伤坑)的散射
^i%S}VK 4.3来自颗粒污染的散射
Sy VGm@ 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论)
:C>7HEh-2_ 颗粒密度函数模型
T`!R
ki%~ 案例:计算
激光通过金属粉尘的吸收
1*=ev,Z 4.4来自黑处理表面的散射
C=+9XfP 0 4.5孔径衍射
XX/gS=NE#. 杂散光程序中的孔径衍射
WrGA7&!+ 衍射元件的衍射特性
Z8v 8@Y 案例:衍射杂散光分析
F(hPF6Zx( 5.大气湍流散射
a%r!55. 6热辐射
lfj5?y 红外热辐射的杂散光分析
96^aI1: 冷反射仿真
Iuxf`sd 7. 鬼像反射
J.yM@wPS> 鬼像反射
6=;:[ 表面镀膜
W,@F!8 表面镀 AR 增透膜的仿真
-UkK$wP5 8.
光学设计中的杂散光控制
B4b'0p 8.1 使用视场光阑
:gV~L3YW5 8.2 减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量
9InP2u\&: 8.3 使用眩光光阑(Lyot stop)
0 SSdp< 8.4 使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射
+fk*c[FG 8.5 使用滤光
Jb"FY:/Qv+ 8.6 显微镜中的杂散光分析
A5Hx$.Z 9. 挡板和冷窗的设计
QH-CZ6M 9.1 主挡板和冷屏的设计
!}!KT(%% 9.2 挡光环的设计
ceG\Q2 槽型挡光环
`a&L 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔
m ~&
案例:望眼镜系统的挡板的
优化 {c*$i^T 10. 角分辨散射光测量技术
2V@5:tf 10.1 PSD 测量技术与 PSD 转 BSDF
\< .BN;t{ 10.2 BSDF 散射测量仪光路结构介绍
WkuCnT 10.3 BSDF 散射测量关键
参数介绍
^i8,9T'= 10.4 使用 BSDF 测量数据提升仿真精度
G0 EXgq8 如您对此课程有兴趣,扫码加微联系我
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