[培训]3月线下培训课程——杂散光整体解决方案课程 [复制链接]

时间地点主办单位：讯技光电科技（上海）有限公司   苏州黉论教育咨询有限公司 J@IKXhb7_  
授课时间：2024/3/15(五）-3/17（日）共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 ]!/R tt  
授课地点：上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 0U#m7j  
课程讲师：讯技光电高级工程师 gl2l%]=\'  
课程费用：4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) W&3,XFnI_  
课程简介杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索：杂散光辐射理论，杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法，杂光分析与软件，BSDF 与测量数据，杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源，以及对红外光学系统成像质量的影响，在简化分析上，讨论了杂散光分析的物理模型，利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件，为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。课程分为两部分，第一部分：杂散光分析与控制技术（2.5 天），第二部分：角分辨散射光测量技术（0.5 天） `>lY$EBG@[  
1. 杂散光介绍与术语 A,7* 52U  
1.1 杂散光路径 !2/o]_K@+  
1.2 关键面和照明面 lACS^(  
1.3 杂光内部和外部杂散光 4CS$%Cu\?w  
2. 基本辐射度量学-辐射 w7\ \m9  
2.1 BSDF 及其散射模型 R[m+s=+  
2.2 TIS 总散射概念 Kv#Q$$)r  
2.3 PST(点源透射比) F+W{R+6  
3.杂散光分析中的光线追迹 5
*Dh#FRp  
3.1FRED软件光线追迹介绍 Wi~?2-!   
3.2构建杂散光模型 7x*C` Et<x  
定义光学和机械几何 yD0DPtti  
定义光学属性 gnf4H V~  
3.3光线追迹 F&lSRL+v  
使用光线追迹来量化收敛速度 |f$gQI!XW  
重点采样 b/E3Kse?  
反向光线追迹 Ty3.u9c4  
控制光线Ancestry以增加收敛速度 ?dk)2  
使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 BXytAz3  
使用GPU来进行追迹 rf!i?vAe  
RAM内存使用设置 `?d` #)Ck  
4.散射模型 .5A .[ZY)  
4.1来自表面粗糙的散射 f/m0,EERk  
低频、中频、高频 '=Acg"aT  
RMS粗糙度与BSDF的关系 sn'E}.uhXH  
由PSD推导BSDF ^^YP kh6sS  
拟合BSDF测量数据 nY?&k$n  
4.2来自划痕(光学损伤坑)的散射 LF+E5{=:R  
4.3来自颗粒污染的散射 (SA^>r  
来自球形颗粒中的散射（米氏散射理论） c;n\HYk  
颗粒密度函数模型 H}8kku>7  
案例：计算激光通过金属粉尘的吸收 %P C[-(Q  
4.4来自黑处理表面的散射 xlc2,L;i  
4.5孔径衍射 ws$kwSHq  
杂散光程序中的孔径衍射 fOP3`G^\  
衍射元件的衍射特性 y3P4]sq  
案例：衍射杂散光分析 w,0OO f  
5.大气湍流散射 UI~hB4V$]  
6热辐射 o Z%oP V:  
红外热辐射的杂散光分析 hANe$10=H
 
冷反射仿真 S2#@j#\  
7. 鬼像反射 /HdjPxH  
 鬼像反射 *-E'$  
 表面镀膜 02YmV%  
 表面镀 AR 增透膜的仿真 :+8qtIytKX  
8. 光学设计中的杂散光控制 Q+O./1x*,  
8.1 使用视场光阑 Sb}=j;F  
8.2 减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量 +{%)}?F  
8.3 使用眩光光阑（Lyot stop） iUZV-jl2/  
8.4 使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射 0aJcX)  
8.5 使用滤光 v"_E0 3!  
8.6 显微镜中的杂散光分析 e^N}(Kpy  
9. 挡板和冷窗的设计 y<l
(F?_  
9.1 主挡板和冷屏的设计 h1$75E?,  
9.2 挡光环的设计 _KZTY`/*  
 槽型挡光环 K.b:ae^k  
 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔 WfYG#!}x  
 案例：望眼镜系统的挡板的优化 %{?9#))  
10. 角分辨散射光测量技术 Tz&h[+6`  
10.1 PSD 测量技术与 PSD 转 BSDF '*<I<? z;  
10.2 BSDF 散射测量仪光路结构介绍 x]IJ;  
10.3 BSDF 散射测量关键参数介绍 &7r a  
10.4 使用 BSDF 测量数据提升仿真精度 }:!X@C~  
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