时间地点主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司 9!kH:Az[p
授课时间:2024/3/15(五)-3/17(日)共 3 天 AM 9:00-PM 16:00 U^@8ebv
授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室 WYayr1
课程讲师:讯技光电高级工程师 9td[^EB#(h
课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用) nB+UxU@
课程简介杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与软件,BSDF 与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间光学系统的杂散光来源,以及对红外光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。课程分为两部分,第一部分:杂散光分析与控制技术(2.5 天),第二部分:角分辨散射光测量技术(0.5 天) G8Qo]E9-/
1. 杂散光介绍与术语 n-5@<y^
1.1 杂散光路径 S
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1.2 关键面和照明面 K@0/iWm*
1.3 杂光内部和外部杂散光 D rMG{Yiu
2. 基本辐射度量学-辐射 e]qbh_A
2.1 BSDF 及其散射模型 KBO{g:"
2.2 TIS 总散射概念 Vo; B#lK
2.3 PST(点源透射比) pp!>: %
3.杂散光分析中的光线追迹 OfAh?^R
3.1FRED软件光线追迹介绍 9_07?`Jr
3.2构建杂散光模型 s.8]qQRr
定义光学和机械几何 DsI{*#
定义光学属性 i=ztWKwKf
3.3光线追迹 r'GD
使用光线追迹来量化收敛速度 5IsRIz[`TK
重点采样 - 2`D(xC
反向光线追迹 \dG#hH4ZD
控制光线Ancestry以增加收敛速度 *GMs>"C
使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度 -j<g}IG
使用GPU来进行追迹 yE80*C~d
RAM内存使用设置 &E{i#r)'T
4.散射模型 eLd7|*|
4.1来自表面粗糙的散射 M10u?
低频、中频、高频 |9D;2N(&!
RMS粗糙度与BSDF的关系 zq?Iwyo
由PSD推导BSDF QSNLo_z
拟合BSDF测量数据 gEBwn2
4.2来自划痕(光学损伤坑)的散射 qOi3`6LCV
4.3来自颗粒污染的散射 82q_"y>6
来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论) 7ql&UIeQ
颗粒密度函数模型 a BHV
案例:计算激光通过金属粉尘的吸收 1q&gTv