时间地点主办单位:讯技光电科技(上海)有限公司 苏州黉论教育咨询有限公司
%hYol89F 授课时间:2024/3/15(五)-3/17(日)共 3 天 AM 9:00-PM 16:00
29+p|n 授课地点:上海市嘉定区南翔银翔路 819 号中暨大厦 18 楼 1805 室
Wr \rruH6 课程讲师:讯技光电高级工程师
#&Zb8HAj 课程费用:4800RMB(课程包含课程材料费、开票税金、午餐费用)
a r0y8>]3 课程简介杂光理论和杂光问题研究要从以下几个方面探索:杂散光辐射理论,杂散光合格判定标准、系统杂光测试方法,杂光分析与
软件,BSDF 与测量数据,杂光抑制设计等。本课程介绍空间
光学系统的杂散光来源,以及对红外
光学系统成像质量的影响,在简化分析上,讨论了杂散光分析的物理模型,利用已有的光学系统模型讨论了杂散光计算和分析方法。用具体的模型说明杂散光分析和计算假设条件,为以后利用软件进行杂散光分析打下基础。课程分为两部分,第一部分:杂散光分析与控制技术(2.5 天),第二部分:角分辨散射光测量技术(0.5 天)
sK#)wjj\^ 1. 杂散光介绍与术语
P=)&]Pz 1.1 杂散光路径
D4:c)} 1.2 关键面和
照明面
2?]NQE9lA 1.3 杂光内部和外部杂散光
t~xp&LQiY 2. 基本辐射度量学-辐射
yDt3)fP# 2.1 BSDF 及其散射模型
[Z3B~c 2.2 TIS 总散射概念
zc QFIP 2.3 PST(点源透射比)
\O"EK~x}/ 3.杂散光分析中的
光线追迹
4{d`-reHg 3.1FRED软件光线追迹介绍
B}=
WxG|) 3.2构建杂散光模型
H3=U|wr| 定义光学和机械几何
|%F[.9Dp 定义光学属性
p;S<WJv k 3.3光线追迹
oG! S(95 使用光线追迹来量化收敛速度
#+2|ZfCn% 重点采样
N'L3Oa\% 反向光线追迹
1/t}>>,M 控制光线Ancestry以增加收敛速度
u`l1
zMk 使用蒙特卡洛光线劈裂增加收敛速度
V 0<>Xo% 使用GPU来进行追迹
4uUG0o RAM内存使用设置
giy4< 4.散射模型
+LwE=unS 4.1来自表面粗糙的散射
mdu5aL 低频、中频、高频
Z/ "jLfP RMS粗糙度与BSDF的关系
mWUo:(U 由PSD推导BSDF
&j@i>(7 拟合BSDF测量数据
* \@u,[, 4.2来自划痕(光学损伤坑)的散射
^L&hwXAO: 4.3来自颗粒污染的散射
/aepE~T 来自球形颗粒中的散射(米氏散射理论)
w5I
+5/I 颗粒密度函数模型
wo;`D 案例:计算
激光通过金属粉尘的吸收
QI@!QU$K& 4.4来自黑处理表面的散射
+DwyMzeE 4.5孔径衍射
< PoRnx 杂散光程序中的孔径衍射
*KP
60T 衍射元件的衍射特性
lFT_J?G$' 案例:衍射杂散光分析
&H!#jh\w 5.大气湍流散射
*g$egipfF 6热辐射
:@6,|2be= 红外热辐射的杂散光分析
4Fr0/="H 冷反射仿真
pZRKM<k 7. 鬼像反射
mZVYgJQ[ 鬼像反射
>$]SYF29 表面镀膜
s)q;{wz 表面镀 AR 增透膜的仿真
_"8\k7S* 8.
光学设计中的杂散光控制
m:77pE&o 8.1 使用视场光阑
2}P<}-?6 8.2 减小孔径光阑和焦平面间的几何元件数量
$=8?@My< 8.3 使用眩光光阑(Lyot stop)
|BD]K0 8.4 使用光瞳掩膜来阻止衍射及来自支柱的散射
P=K+!3ZXo 8.5 使用滤光
RVmD& 8.6 显微镜中的杂散光分析
M2ig iR 9. 挡板和冷窗的设计
SSANt?\Z< 9.1 主挡板和冷屏的设计
u 89u#gCAC 9.2 挡光环的设计
CqVh9M.ah 槽型挡光环
0:^L>MO 挡板挡光环最佳孔径、深度、间隔
YShtoaCx> 案例:望眼镜系统的挡板的
优化 GI}h)T 10. 角分辨散射光测量技术
:%Dw3IrOM 10.1 PSD 测量技术与 PSD 转 BSDF
t
7D2k2x9 10.2 BSDF 散射测量仪光路结构介绍
o6^^hc\ 10.3 BSDF 散射测量关键
参数介绍
fL7ym,? 10.4 使用 BSDF 测量数据提升仿真精度
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